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当前位置：北京时代新天测控技术有限公司>>FT220涂层测厚仪>> Thick 800A荧光测厚光谱仪
技术参数元素分析范围从钠（Na）到铀（U）。
一次可同时分析多24个元素。
分析检出限可达1ppm。
分析含量一般为1ppm到99.9％。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。
多次测量重复性可达0.1％。
长期工作稳定性为0.1％。
温度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
主要特点1、上照式
2、测试组件可升降
3、高精度移动平台
4、小准直器
5、高分辨率探头
6、可视化操作
7、自动定位高度
8、自动寻找光斑
9、鼠标定位测试点
10、良好的射线屏蔽
11、超大样品腔设计
12、测试口安全防护
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