产品特点：

◆好的测试技术，好的驱动能力，原因的电路板皆可修好

◆友好简单的中文操作界面，不经训练，均可成为维修

◆无需电路原理图，不必知道器件型号，对电路板皆可快速维修

◆40/40×2路数字电路测试功能，备有TTL/CMOS/RAM及中规模集成电路数据库；

◆40/40×2（ASA）V/I，曲线分析测试功能

◆电路板测试存储功能，被测板可与之比较

◆与进口同类仪器比较，优，操作方便

◆通用于各类双列直插式封装芯片，可为大中规模集成电路提供分析测试。

◆本功能亦可通过学习记录，比较分析来测试。

技术规格：

并口

Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系统下工作

双CPU工作，速度更快，效率更高。

功能测试40×2通道

VI曲线测试40×2通道

双测试夹VI曲线测试

网络提取 程控加电

EPROM/RAM在线读取

模拟器件 VI曲线测试

总线隔离信号

中文维修笔记

◆[ICT]系列检测仪检测更加准确

■ 功能测试软件设上拉电阻——方便集电极开路门的测试

■ 功能测试外供电源稳定——各种大、中、小型被测电路板皆可测试

■ 功能测试具有三态识别能力——可测三态器件和IC负载能力下降

■ V/I测试正负扫描电压——同时检查正/反向V/I曲线

■ V/I测试六个扫描频率——保证V/I曲线测试稳定

■ V/I测试三种测试电压幅度——确保各类器件的V/I测试

◆集成电路在线功能测试

本功能采用后驱动隔离技术，可在线判定IC逻辑功能是否正确，可测74系列、

4000/45000逻辑IC、75系列接口IC及各种存储器等千余种集成电路。 1、快速测试：直接

显示测试结果，迅速确定可疑IC 2、分析测试：显示全部测试过程，测试激励。预期和实

际响应，帮助分析原因 3、器件识别：查找无标记型号IC或同功能不同型号的IC。

◆集成电路在线状态测试

通过好坏板上相应IC的状态进行比较，找出有的IC。1、状态学习：在线学习IC的引脚关系，互连状态和测试的激励与响应，并存入数据库中 2、状态比较：同

板上相应IC在线进行状态比较，根据两者差异判定IC好坏 3、状态显示：显示存入电脑库

中的各IC的状态资料。

◆集成电路离线功能测试

离线测试IC功能好坏，自动识别未知型号的芯片

◆V/I曲线测试

通过好坏板上相应节点的动态阻抗圈的异同判定节点及故IC 1、曲线学习：在线

学习*板上各节点的动态阻抗曲线（V/I曲线），并存入数据库中 2、曲线比较：同故

障板上相应节点的动态阻抗曲进行比较，根据差异大小及维修经验判定与此节点相关的IC

是否损坏 3、曲线显示：显示已存入电脑库中电路板上各个节点的动态阻抗图资料大规模

集成电路分析测试

网络提取测试

使用户方便的测试出元器件之间的连接关系，；辅助判断芯片的好坏。实现网络提取采

用了四种模式：

1、探棒对探捧（“棒"—“棒"模式）

2、探捧对测试夹（“棒"—“夹"模式）

3、测试夹对探捧（“夹"—“棒"模式）

4、测试夹对测试夹（“夹"—“夹"模式）

◆开发编译

TVED为每一块电路的每一个子测试都安排了一个说明文件。该说明

文件可以通过任何一个文本编辑器建立，并按TVED要求转换后即可

与相应子测试关联起来，随时用热键查看相应说明文件。

1、TVED允许两种建立测试图形和方法

a）在TVED图形界面上直接建立

b）读入DCL语言的编译结果

2、编辑测试图形 利用TVED提供的波形编辑功能，参考取回的响应，不断对测试图形加

以调整、修改。

3、4种测试方式：

a）完整执行一个测试

b）执行一个测试的一部分

c）循环执行

d）单步运行

备注信息：

比旧款的4040/8080增加了以下功能：

◆网络提取测试

使用户方便的测试出元器件之间的连接关系，；辅助判断芯片的好坏。实现网络提取采

用了四种模式：

1、探棒对探捧（“棒"—“棒"模式）

2、探捧对测试夹（“棒"—“夹"模式）

3、测试夹对探捧（“夹"—“棒"模式）

4、测试夹对测试夹（“夹"—“夹"模式）

◆开发编译

TVED为每一块电路的每一个子测试都安排了一个说明文件。该说明

文件可以通过任何一个文本编辑器建立，并按TVED要求转换后即可

与相应子测试关联起来，随时用热键查看相应说明文件。

1、TVED允许两种建立测试图形和方法

a）在TVED图形界面上直接建立

b）读入DCL语言的编译结果

2、编辑测试图形 利用TVED提供的波形编辑功能，参考取回的响应，不断对测试图形加

以调整、修改。

3、4种测试方式：

a）完整执行一个测试

b）执行一个测试的一部分

c）循环执行

d）单步运行

◆操作系统的兼容性增强