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陈经理
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详细介绍
子元器件老化测试，蒸气老化试验箱
湖北高天蒸汽老化试验箱，蒸汽老化试验箱适用于子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片阻容、零组件产业、子零组件金属等材料进行老化加速寿命试验。
蒸汽老化试验箱标准型号：
产品型号：GT-ZQ-34
内部尺寸：50X40X17 CM （W*H*D）
外部尺寸：60X50X42 CM （W*H*D）
温度范围：Upto97℃
控制器：PID微脑控制
加热方式：PID+SSR
升温时间：约45分钟
计时器：9999分
压：220V
热（KW）：2
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