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X射线衍射法应力分析仪 便携式x光检测仪

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更新时间:2023-07-05 09:30:37浏览次数:345次

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产品简介

X射线衍射法应力分析仪准直器直径从Φ1到Φ5,包括特殊小直径Φ0.5和Φ0.8甚至更小;测距,行程误差小于0.003mm;对无应力铁粉测量误差可控制到±6.9MPa以内;满足或超过ANSIN43.3-1993和其它工业标准

详细介绍

X射线衍射法应力分析仪准直器直径从Φ1到Φ5,包括特殊小直径Φ0.5和Φ0.8甚至更小;测距,行程误差小于0.003mm;对无应力铁粉测量误差可控制到±6.9MPa以内;满足或超过 ANSI N43.3-1993和其它工业标准。

X射线衍射法应力分析仪仪器原理:

G3根据的是布拉格原理,使用X射线来测量残余应力和残余奥氏体。这是一种传统的方法,是测量铁素体钢的X射线衍射法,也适用于所有晶体材料(包括陶瓷)

此设计主要是针对应力测量用的,非常方便,对操作者来说也很安全。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。Xstress3000G3,既可在实验室使用,也可在户外使用,携带方便,一个人就可完成。只需要一个电源,从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接,把主单元与计算机用一根电缆连接上,就可进行其它扩展应用。

技术特点:

1.检测质量远远高于国产仪器;

2.检测量程宽;

3.操作简单,易于校准和维护;

4.方便快捷,两分钟之内完成整个操作过程;

5.采用超密封稳定结构,外壳防护等级达到GB4208-1993规定的IP54要求,确保了在恶劣环境下测量准确性。

技术指标:

电缆线:标准配置为5

电源:100-240 VAC50/60Hz600V

尺寸:主控单元 X3003552x413x254mm

测角仪 G3555x492x574mm

测角仪 G3R966x573x605mm

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