同时，为了更好的利用X荧光分析仪器的无损测量特性，我公司根据行业需要制作超大型抽真空样品腔，以满足不同大小、器形的陶瓷样品的检测。

EDX8000L型仪器在测试陶瓷的同时亦可以测试青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化学成份和金属镀层厚度，做到一机多用，是古文物检测的科学检测仪器。中国历史博物馆、中国收藏家协会等古文物收藏部门都是其用户。

技术指标

型号：EDX8000L     
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99%
同时分析元素：同时可以分析30种以上元素
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.01微米
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：30s—200s 
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
输入电压：AC 110V/220V 
消耗功率：200W  
环境温度: 15-26℃ 
相对湿度: ≤70%

标准配置

超薄窗大面积的Fast SDD探测器
数字多道系统
可自动切换型准直器和滤光片
光路增强系统
内置高清晰摄像头
加强的金属元素感度分析器
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
面光源
放大电路
高低压电源
X光管
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型。
三重安全保护模式
外观尺寸： 800×710×1360 mm
样品腔尺寸：590×550×600mm
重量：280kg

应用领域

古陶瓷
古青铜器
古首饰
镀层测厚