LSV-065 ID：216893

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深圳市扎克贸易有限公司 

张瑞 188-24-24-30-80（V同）

Q 306-167-1820

表面计量系统

白光干涉仪是高质量标准功能表面精密检查的理想解决方案。我们的TopMap表面计量系统可在研究实验室，生产线附近和生产线中可靠地表征表面。我们的不同TopMap模型适合在挑战性条件下进行质量检查。

TopMap QC软件包

现在，可用于TopMap 3D表面轮廓分析系统的全新的用于质量控制（QC）任务的智能功能包-TopMap QC软件包支持表面检查，尤其是在具有挑战性的生产环境中。

TopMap Metro.Lab

作为一个完整的测量站，TopMap Metro.Lab非常适合几乎所有表面上的大面积地形。由于它物有所值，因此对任务较少的小型公司也很有吸引力。

TopMap在线

TopMap In.Line的紧凑设计意味着可以轻松地将其集成到生产线中，并可以在不同反射表面上快速进行检查。台阶，较大的波纹或其他表面结构在此不会造成任何问题。

TopMap Pro.Surf

快速，精确地3D表面表征的理想选择。面积测量可确保不会遗漏任何细节。TopMap Pro.Surf具有较短的测量时间和较大的视野。

TopMap Pro.Surf +

Polytec的多合一3D光学表面轮廓仪。白光干涉仪的精度与彩色共焦传感器相辅相成，可克服使用一种设备确定的形状偏差和任何粗糙度。Pro.Surf +可以在大面积上测量地形，并以此来表征具有纳米分辨率的结构。

TopMap µ.Lab

借助TopMap µ.Lab测量微观视野，您可以以非常高的横向分辨率表征微观结构表面。该光学轮廓仪可以确定诸如精细，敏感结构，微结构和MEMS上的纹理，平坦度，波纹和粗糙度等参数。 

非接触式速度和长度测量

在钢厂或造纸厂等生产带材时，准确了解带材长度和当前速度对于降低成本，优化产品和工艺至关重要。在这里，Polytec提供了用于精确过程控制的解决方案。LSV激光表面测速仪是高性能的非接触式传感器，可可靠地测量长度和速度。

得益于光学测量，该传感器可在充满挑战的工业环境中可靠地捕获长度和速度。LSV以小的维护成本提供了高水平的鲁棒性和过程完整性。

ProSpeed LSV-2100激光表面测速仪

借助下一代光学速度和长度传感器ProSpeed LSV-2100，它具有增强的连接性和长达3米的扩展工作距离，随时随地即可控制生产过程。 

LSV-1000激光表面测速仪

紧凑的速度计，可对带材产品进行非接触式长度和速度测量。

非接触式编码器PROSPEED

精确的速度和长度测量对于控制连续材料，片材和片状产品的生产至关重要。ProSpeed –下一代LSV激光表面测速仪通过提供可靠的测量来优化生产过程。Polytec传感器可提高金属，电缆和加工行业的产量。由于具有激光精度的非接触式测量原理，ProSpeed激光传感器消除了传统接触轮测量方法的常见问题，例如损坏精密表面，在几乎任何表面上打滑和热膨胀。

在生产过程中取得更大成就

下一代传感器ProSpeed LSV-2100的增强连接性使您可以随时随地访问配置和过程数据。增强灵活性并通过触摸屏获得直接反馈。通过Web界面舒适地进行参数设置，并允许通过以太网和串行接口并发访问多四个用户或系统的数据。光学传感器确定运动的方向和静止状态，其大的隔离距离可达3m，从而增加了在恶劣条件下进行测量的灵活性。TPH热保护外壳为真正具有挑战性的环境提供了额外的保护。

将新的ProSpeed LSV-2100集成到生产过程中将提高产量，质量和吞吐量。

以激光精度测量速度和长度

例如，在轧钢厂或造纸厂中生产连续材料（例如带材产品）和块状产品时，要想优化成本和工艺，知道确切的带材长度和当前速度是关键。非接触式传感器（例如LSV-1000激光表面测速仪）大大超过了传统的基于接触和非接触式测量方法的性能。同时，它们在非常苛刻的工业环境中提供了很高的鲁棒性和可靠性，并且还受益于低的维护要求和较低的维护成本。

紧凑，可靠，经济高效

为了实现可靠的过程，可控制的速度和精确的切割长度：充分利用基于激光的光学长度和速度测量所提供的应用优势，同时，由于紧凑而得益于成本效益和简单集成多合一设计。

LSV-1000是Polytec新一代的紧凑型速度计，用于对带材产品进行非接触式长度和速度测量。该测量设备可快速可靠地为您提供长度和速度值，用于检查和定尺切割应用，其精度只有使用激光才能实现。这使您可以优化过程，降低维护成本，从而快速获得对测量设备的投资回报。无论您的测量任务涉及对钢，光泽铝，油性板材，电线，电缆还是非金属材料（例如木材，纸板，建筑材料和纺织品）进行测量，您都可以放心，LSV系统可以对几乎任何表面。

过程光谱仪

Polytec PSS光谱仪为您的NIR过程分析问题提供了理想的解决方案。这些器件基于带有二极管阵列检测器的透射光栅设计，可确保快速而精确的数据采集。光纤耦合组件的灵活组合可根据用户要求在各种测量方案中进行集成。高度标准化的组件意味着无需在精度和用户友好性方面做出妥协。

过程光谱仪的探头

不同的测量情况需要使用不同的探头以适合当前的应用。这就是为什么Polytec提供多种扫描头的原因，这些扫描头可以直接与被测货物接触，甚至可以在距被测货物更大的工作距离上使用。还提供可以浸入待分析产品中的探针。一些传感器已经与照明模块结合在一起，并具有内部参考。使用带有光纤开关的多路复用器系统，光谱仪可以配备多个在不同测量点使用的探头。

过程光谱仪软件

提供的解决方案范围包括用于实验室内分析和过程监控的软件包。对于实验室内分析，您可以将PAS LABS及其全面的配置选项用于测量过程。该软件可实现快速便捷的数据采集。对于过程应用，Polytec为您提供定制的软件解决方案，您可以采用多种不同的方式进行配置-从适当的测量过程控制到与过程控制系统的通信。产品组合由提供商的兼容软件包进行完善，用于多变量数据分析。 

过程光谱仪的多路复用器

使用Multiplexer解决方案，用户可以在过程中的各个点使用几个甚至不同的探针执行基于光谱仪的测量。这意味着可以在这些位置使用不同的评估解决方案。该仪器可在定制的测量场景中灵活，经济地集成各种应用。

过程光谱仪配件

您可以从Polytec光谱仪系统的广泛配件组合中进行选择。Polytec甚至可以根据您的要求单独制造单个单元的附件，以用于研究或批量制备操作。

OEM解决方案的组件

用于NIR或拉曼光谱的PSS-M和PRS-M多色仪是Polytec GmbH内部开发的产品。现在，它们已成为我们合作伙伴提供的许多系列产品的组成部分，甚至可以满足高灵敏度要求