新的MINITEST 700涂层测厚仪产品线，加强了德国EPK(Elektrophysik)公司在涂层测厚市场的领
-新型的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的精准性
-测量范围达15mm，可F、N或FN探头，提供内置或外接探头
-FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体，操作方便不易出错
MiniTest 720/730/740涂层测厚仪涂层测厚仪优点一览：
-SIDSP使测量不受干扰，测值更加精准
-可更换探头使用更加灵活(MINITEST 740探头可由内置换为外置)
-FN探头自动识别基体，使测量更迅速，避免操作错误
-温度补偿功能避免温度变化引起的错误
-生产过程中50点校准使仪器获得高精准度的特征曲线
-大存储量，能存储10或100组多达100,000个读数
-读数和统计值能单独调出
-超大，背光显示屏，显示内容可180度旋转
-菜单指引操作，25种语言可选
-带IrDA接口，红外线传输数据到打印机和PC
-可下载更新软件
MiniTest 720/730/740涂层测厚仪涂层测厚仪主机技术参数
主机型号 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
探头类型 | 内置 | 外置 | 内置外置可换 |
数据记忆组数 | 10 | 10 | 100 |
存储数据量 | 上限10,000个 | 上限10,000个 | 上限100,000个 |
统计值 | 读值个数、下限小值、上限大值、平均值、标准方差、变异系数、组统计值(标准设置/自由配置) | ||
校准模式 | 出厂设置校准、零点校准、两点校准、三点校准，使用者可调节补偿值 | ||
极限值监控 | 声、光报警提示超过极限 | ||
测量单位 | μm，mm，cm；mils，inch，thou | ||
操作温度 | -10℃~60℃ | ||
数据接口 | IrDA 1.0(红外接口) | ||
电 源 | 2节AA电池 | ||
标 准 | DIN EN ISO ASTM AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2 | ||
体 积 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重 量 | 约175g | 约210g | 约175g(内置)/230g(外置) |
MiniTest 720/730/740涂层测厚仪涂层测厚仪探头技术参数
探头特性 | F1.5，N0.7，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 | ||||
F | N | F | F | N | F | |||
测量范围 | 0~1.5mm | 0~0.7mm | 0~-2mm | 0~5mm | 0~2.5mm | 0~15mm | ||
使用范围 | 小工件，薄涂层 | 粗糙表面 | 标准探头，使用广泛 | 厚涂层 | ||||
测量原理 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 | ||
信号处理 | 探头内部32位信号处理(SIDSP) | |||||||
精准度 | ±(1μm+0.75%读值) | ±(1.5μm+0.75%读值) | ±(5μm+0.75%读值) | |||||
重复性 | ±(0.5μm+0.5%读值) | ±(0.8μm+0.5%读值) | ±(2.5μm+0.5%读值) | |||||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||||
下限小曲率半径(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||||
下限小曲率半径(凹，外置探头) | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||||
下限小曲率半径(凹，内置探头) | 30mm | 30mm | 30mm | |||||
下限小测量面积 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||||
下限小基体厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm | ||
连续模式下测量速度 | 每秒20个读数 | |||||||
单值模式下上限大测量速度 | 每分钟70个读数 | |||||||
MiniTest 720/730/740涂层测厚仪标准配置：
-MINITEST 720(内置探头)、或MINITEST 730(外置探头)、或MINITEST 740主机(不含探头，有各种探头可选) 、
-校准套装含校准片和零板、操作使用说明CD，德语、英语、法语、西班牙语、
-中文说明书 、
-2节AA电池、
-塑料手提箱。
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