ITO薄膜厚度测量仪 全自动膜厚仪台式测厚仪

TO薄膜是一种n型半导体材料，具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器（LCD）、等离子显示器（PDP）、电致发光显示器（EL/OLED）、触摸屏（TouchPanel）、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜，在透明导电薄膜方面得到普遍的应用，具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制，所以对ITO薄膜厚度的高精度测量，是企业必须重视的检测项目之一。

济南新准生产的CHY-C2A测厚仪适用于ITO薄膜厚度测量采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性，测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差，系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定，实时显示测量结果的大值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。 

ITO薄膜厚度测量仪 全自动膜厚仪台式测厚仪 技术指标

测试范围 0～2 mm（常规） 0～6 mm；12 mm（可选）

分辨率 0.1 μm

测量速度 10 次/min （可调）

测试压力 17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）

接触面积 50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）

注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制

进样步距 0～1000 mm

进样速度 0.1～99.9 mm/s

电源 AC 220V 50Hz

外形尺寸 461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)

净重 32 kg

ITO薄膜厚度测量仪 全自动膜厚仪台式测厚仪 产品配置：主机、标准量块一件、专业软件、通信电缆、测量头