Thick800A X荧光镀层测厚仪

Thick800A X荧光镀层测厚仪性能特点

　　满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

　　φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

　　高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

　　采用高度定位激光，可自动定位测试高度

　　定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

　　鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

　　高分辨率探头使分析结果更加精准

　　良好的射线屏蔽作用

　　测试口高度敏感性传感器保护

　Thick800A X荧光镀层测厚仪技术指标

　　型号：Thick 800A

　　元素分析范围从硫(S)到铀(U)。

　　同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

　　分析含量一般为ppm到99.9% 。

　　镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

　　任意多个可选择的分析和识别模型。

　　相互独立的基体效应校正模型。

　　多变量非线性回收程序

　　度适应范围为15℃至30℃。

　　电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

　　外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

　　样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

　　重量：90kg

　　标准配置

　　开放式样品腔。

　　精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

　　双激光定位装置。

　　铅玻璃屏蔽罩。

　　Si-Pin探测器。

　　信号检测电子电路。

　　高低压电源。

　　X光管。

　　高度传感器

　　保护传感器

　　计算机及喷墨打印机

　　应用领域

　　黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.

　　金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。

　　主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行，首饰销售和检测机构;电镀行业。