X荧光光谱仪

产品特点:

l集ROHS有害元素分析、金属元素分析、电镀层厚度分析、全元素分析于一体的测试软件

l电镀层可以是镀金、镀银、镀镍、镀锡、镀锌等镀层

l*的MLSQ-FP分析软件可以内置无限多标样数据，*的提高了测试精度和测试范围

l采用多道脉冲分析器

l一次可同时分析样品中25个金属的含量极成分

l软件支持无标样分析，无标样条件下误差小于1%，可任意进行定性定量分析，使用灵活

l直观的分析谱图,元素分布一目了然

l物理测量，不改变样品性质分析样品不被破坏，被测样品可以是固体、粉末、液体等

l具有多种光谱拟合分析处理技术

  1）Smooth(波峰光滑处理)

  2）Pickup Removal(拾取峰去除)

  3）Escape peak(逃逸峰处理)

  4) Background Removed(背景去处)

  5) Blank Subtraction(空白峰位去除)

  6) Compton Peak(康普顿波峰处理)

  7) Deconvolute(去卷积积分处理)

X荧光光谱仪EDX-1200 铜合金分析仪技术指标

l测量元素范围：11（Na）~ 92 (U)

l膜厚分析精度：0.05um

l元素含量分析范围：1ppm—99.99%

l多次测量重复性误差小于0.1%

l*工作稳定性误差小于0.1%

l检测时间：100-120秒

l样品腔尺寸：190×190×54mm

l工作环境温度：15-30℃

l工作环境湿度：≤65%

l工作电压：AC220V（建议使用者配UPS稳压电源）

标准配置

光谱仪主机 计算机 准直器 载物片 操作手册

X荧光光谱仪应用领域

RoHS、金属膜厚度、工业镀层厚度测量、冶炼、玩具、无卤化分析、电子电器、土壤、催化剂、矿石、原材料成份分析等