FEI扫描电镜Prisma E材料科学

对于需要性能和易用性的多用户实验室而言，最完整的SEM。

新型Prisma E扫描电子显微镜（SEM）将各种成像和分析模式与新的自动化相结合，为同类仪器提供最完整的解决方案。

它非常适用于需要高分辨率，样品灵活性和易于使用的操作界面的工业研发，质量控制和故障分析应用。Prisma E成功获得了极为成功的Quanta SEM。

出色的成像

多用户实验室需要显微镜在短时间内生成具有相关数据的高质量图像。Prisma E采用基于四极管组件的强大成像系统满足了这一需求，

可在各种光束能量和真空条件下提供出色的结果。在所有这些条件下，地形图和成像图都提供必要的样本信息。通过同步采集，该信息可供随后进一步解释和分析。

轻松导航

寻找感兴趣的区域甚至找到样品本身都是一项繁琐的工作......但不是在Prisma E上。室内导航相机（Nav-Cam）

提供样品架的详细照片，使其易于使用一个会话中的多个样本并逐个导航到它们。在示例中，只需单击它即可转到感兴趣的区域。

导航凸轮图像与样本一起旋转，因此导航非常直观。

样本灵活性

今天的研究超越了传统金属和涂层样品 - 非导电材料，大型或重型样品，脏样品甚至湿样品都需要在微观尺度上进行研究。

Prisma E具有三种成像模式 - 高真空，低真空和ESEM™ - 适用于任何SEM的泛样品。此外，Prisma E的腔室适合大样品，

并配备110x110 mm 5轴电动中心平台，倾斜范围为105°，可以从各个角度观察样品。

支持分析

Prisma E的分析室支持对元素（EDX，WDS）和晶体学（EBSD）样品数据的日益增长的需求，

该分析室支持多个EDX检测器以提高通量并消除阴影效应。此外，分析室支持共面EDX / EBSD和平行光束WDS，

以确保所有技术的定位。得益于Prisma E的原位功能，即使在绝缘或高温样品上也能获得可靠的分析结果。
光子学，地球科学，陶瓷，玻璃和故障分析应用的附加样品信息来自的可伸缩RGB阴极发光检测器。