直读介电常数介质损耗测试仪

一 直读介电常数介质损耗测试仪方法与步骤

1. 把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。

2. 在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取100uH，15MHz时电感取1.5uH。

3. 被测样品要求为圆形，直径50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间(当材料介电大于6的情况下建议材料≥2mm)，样品太薄或太厚就会使测试精度下降，样品要尽可能平整。

4. 调节S916测试夹具的测微杆，使S916测试夹具的平板电容极片相接为止，按ZERO 清零按键，初始值设置为0。

• 再松开两片极片，把被测样品夹入平板电容上下极片之间，调节S916测试夹具的测微杆，直到平板电容极片夹住样品止（注意调节时要用S916测试夹具的测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D₂。改变主机上的主调电容容量（旋转主调电容旋钮改变主调电容电容量），使主机处于谐振点（Q值大值）上。
• 取出S916测试夹具中的样品，这时主机又失去谐振（Q值变小），此时调节S916测试夹具的测微杆，使主机再回到谐振点（Q值大值）上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D_4.
• 计算被测样品的介电常数:

     Σ＝D₂ / D₄

直读介电常数介质损耗测试仪

二 介质损耗测试方法与步骤

1. 主机C₀值的计算方式:

• 选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端；
• 将调谐电容器调到200P左右，令这个电容是C₄，
• 按下仪器面板的频率搜索键，使测试回路谐振，谐振时Q的读数为Q₄(注：若频率搜索未能找到z高Q值谐振点，可以通过频率旋钮来微调频率来达到Q值大值的谐振点；
• 将测试夹具接在“Cx”两端，放入材料，上下极片夹紧材料后记住夹具显示值，然后拿出材料，调回到夹具的显示数值，调节主调电容，使测试电路重新谐振，此时可变电容器值为C₃，Q值读数为Q₃。(注：C₃数值肯定比C₄要小)

机构电容的有效电容为：C_z= C₄－C₃