AgilentE5501B噪声系数测试仪

AgilentE5501B噪声系数测试仪缩短了用于 1 端口 VOC、DRO、晶体振荡器以及合成器的 ATE 测试时间，并大程度地提升了研发台式应用的功能。 Agilent E5501B 相位噪声测量解决方案旨在简化 1 端口 VCO、DRO、晶体振荡器以及合成器的相位噪声测量，并大程度地提升研发台式应用的功能。 此外，凭借 0.01 Hz ～ 100 MHz 的标准偏置范围， Agilent E5501B 可提供全面的功能、灵活性和通用性，满足研发工程师不断变化和日益苛刻的需求。 Agilent E5501B 系列解决方案以安捷伦三十余年的低相位噪声、射频设计和测量经验为基础，继续提供出色的测量完整性、可重复性和精度。
AgilentE5501B噪声系数测试仪相位噪声测量解决方案，简化了，一个端口VOC，设立代 处，晶体振荡器和合成器的ATE测试时间，并大限度地提高R＆D台式应用能力。安捷伦E5501B相位噪声测量解决方案的设计，以简化的一个端口的 VCO，设立代处，晶体振荡器和合成器的相位噪声测量，R＆D台式应用的能力大化。此外，一个标准的偏移范围从0.01 Hz到100 MHz的能力，安捷伦E5501B提供的能力，灵活性和通用性，以满足不断变化的，并要求放置在研发工程师的需求。 30年的安捷伦科技的低相位噪声，射频设计和测量经验的基础上，安捷伦E5501B解决方案的继续提供出色的测量完整性，重复性和准确性。