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理学 全新智能型X射线衍射仪 NEW SmartLab

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更新时间:2021-11-03 14:59:44浏览次数:295次

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理学 全新智能型X射线衍射仪 NEW SmartLab

技术参数:
1X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶
2、测角仪为水平测角仪
3、测角仪步进为1/10000度,高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)
4、测角仪配程序式可变狭缝
5、自动识别所有光学组件、样品台
6CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror
7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)
8、多用途薄膜测试组件
9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件
10In-Plane测试组件
11、入射端Ka1光学组件
12、高速探测器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下)
13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器,可以接收直射X射线)
14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance

图片3.jpg 图片4.jpg

主要特点:
智能X射线衍射仪SmartLab系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品


主要的应用有:

1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2.
计算结晶化度、晶粒大小
3.
确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld
定量分析
5.
薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度
6. In-Plane
装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7.
小角散射与纳米材料粒径分布
8.
微区样品的分析


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