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上海浦量元精密机电有限公司
GPI激光干涉仪可应用于:平面和球面的面形检测;平面楔角测量、直角棱镜的直角偏差和任意角度的加工偏差 ;光学材料均匀性测量;GPI激光干涉仪可应用于角锥角度和面形偏差测量 ;精密盘片质量检验 ;三平板优良测量 ;双球面优良测量 ;静态干涉条纹判断 ;泽尼克多项式分析 ;球面曲率半径测量
为了回报广大中国客户对ZYGO激光干涉仪产品的厚爱,ZYGO公司将其应用*广泛、技术*成熟的经典产品--GPI™ XP/D型号激光干涉仪在中国进行组装生产。
GPI™ XP/D激光干涉仪--运用移相干涉原理,提供高精度的平面面形,球面面形,曲率半径,样品表面质量,传输波前的测量和分析。
GPI™ XP/D是ZYGO在中国甚至*高的一款激光干涉仪,广泛应用于科研教学和生产检测中。GPI™ XP/D主机为Fizeau型干涉仪,测量精度高且操作简单,采用精密移相技术和高分辨率CCD接收器件640Х480(可以升级为1024×1024),配合功能强大的MetroPro®软件可以获得高重复性和高精度的测量结果,其三平板优良测量重复性优于λ/300,rms重复性优 于λ/10,000。并能模拟样品表面面形,并显示鲜明的,可旋转的3D彩**像,可选的剖面图以及各种统计数字结果等。同时,针对特殊的样品、 特殊的测量需求,可以为用户设计定制特殊的测量系统,结合MetroPro®软件,为用户提供上乘的技术解决方案并获得满意的测量结果。
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