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高精度薄膜测厚仪 赛成CHY-CA 台式薄膜测厚仪 硅片厚度测量仪

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更新时间:2022-12-24 15:38:53浏览次数:271次

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产品简介

高精度薄膜测厚仪赛成CHY-CA台式薄膜测厚仪硅片厚度测量仪在工业生产过程中,测厚仪的出现为很多人提供了工作上的便利,作为一种测量工具,测厚仪主要是用来对一些材料或物体的实际厚度进行测量,比如钢材,薄膜等

详细介绍

高精度薄膜测厚仪 赛成CHY-CA 台式薄膜测厚仪 硅片厚度测量仪

在工业生产过程中,测厚仪的出现为很多人提供了工作上的便利,作为一种测量工具,测厚仪主要是用来对一些材料或物体的实际厚度进行测量,比如钢材,薄膜等。

CHY-CA测厚仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

产品特征

  • 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制
  • 测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差
  • 支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择
  • 可选系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定
  • 实时显示测量结果的值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断
  • 配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性
  • 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果
  • 5寸触摸屏操控,方便用户进行试验操作和数据查看
  • 标准的USB接口,便于系统与电脑的外部连接和数据

技术指标

测试范围 0 ~ 2 mm(常规)
0 ~ 6 mm;12 mm(可选)
分辨率 0.1 μm
测量压力 17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)
接触面积 50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)
注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
进样步距 0 ~ 1000 mm
进样速度 0.1 ~ 99.9 mm/s
电源 AC 220 V 50 Hz
外形尺寸 461 mm (L) × 334 mm (W) × 357 mm (H)
净  重 25 kg

关键词:测厚仪
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