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SID4 SWIR HR红外高分辨率波前分析仪

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更新时间:2024-02-07 11:44:37浏览次数:44次

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产品简介

SID4 SWIR HR红外高分辨率波前分析仪,也被称为SID4 SWIR HR近红外波前分析仪,具有超高的相位采样分辨率(160 x 128)和高感光灵敏度,可以准确的测量0.9-1.7 μm的波前数据并且可适用于低功率红外光源测试。

详细介绍

SID4 SWIR HR波前分析仪,0.9-1.7 μm超高采样分辨率



SID4 SWIR HR波前传感器的规格参数:          

型号

SID4 SWIR HR

波长范围

0.9-1.7 μm

靶面尺寸

9.60 mm x 7.68 mm

采样分辨率

60 μm

采样分辨率

160 x 128

相位分辨率

<2 nm RMS

精度

15 nm RMS

采样速率

30 fps

实时处理速度(使用配套的SID4软件情况下)

7 fps(全分辨率情况下)

接口类型

Giga Ethernet(以太网)

尺寸

100 x 55 x 63 mm3

重量

~500 g



法国Phasics提供的SID4 SWIR HR红外高分辨率波前分析仪集成了InGaAs探测器和Phasics的技术——四波横向剪切设计而成的。由于SID4 SWIR HR近红外波前分析仪的超高采样分辨率(160 x 128 phase pixels)和高灵敏度,可以精确的测量900 nm1.7 μm的波前数据。短波红外波前传感器SID4 SWIR HR是一种创新的设计方案,它的镜头可以应用于光通信,仪器检测,军事或夜视监测等领域。

SID4 SWIR HR超高采样分辨率波前传感器的主要特点:

- 覆盖0.9-1.7 μm短波红外波段

- 160 x 128的高相位采样分辨率

- 高感光灵敏度,可适用于低功率红外光源测试


SID4 SWIR HR近红外波前分析仪的主要应用:

       - 激光,自适应光学

       - 光学元件及光学系统计量

       - 等离子体检测



关键词:传感器

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