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上海泰规检测设备有限公司
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高低温冲击试验箱是待测品动态式冷﹑热交替冲击方式，广泛使用于电子零组件测试，汽车零部件，半导体，电子线路板，金属化学，材料等测试设备，以及生物科技、学术研究单位。
高低温冲击试验箱依据下列标准生产研发的一款智能化试验设备。
GBT2423.1-2008电子电工产品环境试验 第二部分试验方法 试验A低温
GBT2423.2-2008电子电工产品环境试验 第二部分试验方法 试验B 高温
GBT 10592-1989 高低温试验箱 技术条件
SJT 31391-1994 试验箱完好要求和检查评定方法
GB/T 5170.2-2008 温度试验设备
GJB150.3A-2009(MIL-STD-810F-2000)高温试验
GJB150.4A-2009(MIL-STD-810F-2000)低温试验
SJT 31129-1994 高低温测试设备完好要求和检查评定方法
GBT 11158-1989 高温试验技术条件
GB11158-2008 高温试验箱技术条件
GB10589-2008低温试验箱技术条件
GB10592-2008高低温试验箱技术条件（循环交变）
GB/T2423.3-2006 电子电工产品环境试验第2部分：试验方法Cab 恒定试验
GB/T2423.2-2008 电子电工产品环境试验第2部分：试验方法A:低温
GB/T2423.2-2008 电子电工产品环境试验第2部分：试验方法B:高温
GB/T2324.22-2002 电子电工产品环境试验第2部分：试验方法 试验温度变化
GJB150.3A-2009 装备实验室试验方法第3部分：高温试验
GJB150.4A-2009 装备实验室试验方法第3部分：低温试验
高低温冲击试验箱参数介绍：
内胆尺寸(mm) W×D×H | 外形尺寸(mm) W×D×H | 电源 | 功率（KW） | 温度范围 | 其他技术参数 |
400×350×400 | 880×730×1440 | 220V/50Hz | 2.5 | -20℃－150℃ | 温度波动度：≤±0.5℃ 温度均匀度：≤±2℃ 恢复时间：≤5min |
500×450×500 | 980×830×1560 | 380V/50Hz | 3.5 | ||
400×350×400 | 920×750×1460 | 220V/50Hz | 4 | -40℃－150℃ | |
500×450×500 | 1020×850×1660 | 4.5 | |||
500×450×500 | 1520×1450×2310 | 380V/50Hz | 8.5 | -65℃－150℃ |
高低温冲击试验箱下部为低温蓄冷区，上部为高温蓄热区，试件(待测品)放置在试验箱中部，高温冲击时，提篮往上提到高温区，形成高温内循环。低温冲击时，提篮往下提到低温区，形成低温循环，该冲击试验箱的特点是：试件(待测品)上下来回反复动作，也可按照客户的要求定制左右型移动冲击。
材质：工作室304镜面不锈钢，外壳为冷轧铁板喷涂
控温系统：进口控制仪表，操作简单，设定方便。运行方式：程序或定值两种控制方式自由转换。
空气调节方式：强制内循环通风，可调式导风板设计，平衡调温调湿以保证试验箱温场均匀。
空气循环装置：空气循环装置特制不锈钢长轴马达加不锈钢多翼式离心风叶，有效地保证了试验箱内置式风道的合理循环空气加热方式。
压缩机：进口全封闭泰康制冷压缩机。
制冷剂：单级一级：R-404a 。
冷却：风冷或水冷。
温度传感器：铂金电阻（PT100)。
蒸发器：风冷式盘管式冷凝器，鳍片式多段式蒸发器。
安全装置：压缩机超压保护，压缩机过热保护，压缩机过流保护。
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