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布鲁克 Bruker 三维光学轮廓仪ContourSP

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更新时间：2023-06-16 20:10:16浏览次数：84次

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产品简介

布鲁克Bruker三维光学轮廓仪ContourSP大面板计量系统融合了十余年封装光学表征专业技术，使高密度互连PCB（HDI-PCB）基板的测量效率比上一代白光干涉（WLI）仪器增加了一倍以上

详细介绍

布鲁克 Bruker 三维光学轮廓仪

ContourSP 大面板计量系统融合了十余年封装光学表征专业技术，使高密度互连 PCB（HDI-PCB）基板的测量效率比上一代白光干涉（WLI）仪器增加了一倍以上。该系统专用于在制造过程中测量 PCB 面板的每一层，融入了一大批*测量功能，大幅提升半导体封装行业的量产性能、便利性、可靠性和效率。具有计量功能的 ContourSP 采用简单易用的生产界面，通过用户自定义输入，实现快速、便捷的基准点对齐。

关键词：光学轮廓仪