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高低温冲击试验箱

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更新时间:2023-06-19 07:25:42浏览次数:54次

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产品简介

产品型号温度、湿度范围工作尺寸(W*H*D)容积(L)外形尺寸(W*H*D)技术指标QYTS-56L-40℃+150℃-65℃+150℃400*350*40056900*1500*900温度波动度:≤±0.5℃

详细介绍

产品型号 温度、湿度范围 工作尺寸 (W*H*D) 容积(L) 外形尺寸(W*H*D) 技术指标
QYTS-56L -40℃+150℃-65℃+150℃ 400*350*400 56 900*1500*900 温度波动度:≤±0.5℃;温度偏差:≤±2℃;高温预热时间:≤40min;低温预冷时间:≤60min;温度恢复时间:≤5min
QYTS-80L 400*500*400 80 900*1600*900
QYTS-150L 500*600*500 150 1100*1650*1000
QYTS-225L 500*750*600 225 1100*1720*1050
QYTS-408L 600*850*800 408 1200*1780*1200

1、GB/T 2443.1-2001 试验A:低温试验方法
2、GB/T 2443.2-2001 试验B:低温试验方法
3、GB/T 2443.22-2002 试验N:低温试验方法
4、GJB 150.3-1986 高温试验
5、GJB 150.4-1986 低温试验
6、GJB 150.5-1986 温度冲击试验
7、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击试验

1、温度范围:-65℃~150℃:高温箱:+60℃~150℃;低温箱:0℃~-65℃;
2、温度波动度:±2℃;
3、温度误差:±2℃;
4、升温速率:从常温~150℃≤50min;
5、降温速率:从常温~-65℃≤60min;
6、制冷下限温度:≤-65℃;
7、冲击温度:+150~-65℃;
8、工作室尺寸:500×400×400mm(宽×高×深);
9、外形尺寸:约1900×2100×2000mm(宽×高×深);
10、电源:380V±38V;50Hz±1Hz
11、功率:约16.5Kw
12、温度恢复时间:≤5min;
13、样品架承重:10Kg以内.

1、采用伺服冷媒流量控制技术有效达到节能40%以上
2、采用日制彩色触控LCD中/英文微电脑温度控制器。
3、立式三箱结构,高低温箱循环过程自动控制,停留及转换时间可调,不锈钢内胆,多形式记录。
4、设有多重安全保护措施及装置。
5、完善的保护报警功能:当出现短路、漏电、工作室超温;压缩机超压、过载、油压、断水等异常状况时,荧幕上即刻自动显示故障原因及提供排除方法,并当发现输入电压不稳时,具有紧急停机装置。
6、冷热冲击结构移动时间在10秒内。
7、冷热冲击温度恢复时间在5分钟内,可符合MTL,IEC,JIS,GJB等规范。
8、可扩充设备:温度记录器。
9、Ln2快速降温控制系统。
10、RS-232通信接口装置,可与个人计算机同时进行局域网络联机监控及记录。
11、功能模块:此设备分为高温区、低温区及测试区三部分,采用的断热结构及蓄热、蓄冷效果,采用冷热风15、路切换方式导入试品中,做冷热冲击测试。
12、采用原装日制微电脑大型液晶(320*240dots)中英文显示控制系统。
13、高程式记忆容量,可设定储存100组程式,zui大循环设定9999cycles,每段时间zui大设999Hrs59Mins。
14、具有RS-232C通信介面装置,可与电脑连线控制/编辑/记录及十组动态链接(TIMER SINGAL RELAY)15)使用便捷。执行冷热冲击条件时,可选择2 Zone 或3 Zone之功能。
16、具备全自动,高精度系统,任一机件动作,由P.L.C锁定处理。
17、机件故障时,配自动线路及警示讯号,发现输入电压不稳定时,具有紧急停机装置。

主要用于测试材料或复合材料在瞬间下经温或极低温连续环境下的忍受程度,得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁、光纤、LED、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,都会用到,是各领域对产品测试的的一项测试箱,用于耐高温、耐低温、耐湿热循环检测试验。

高低温冲击试验箱适应于金属、塑料、橡胶、电子等材料行业的测试设备,用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经温及极低温的连续环境下忍受的程度,得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。


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