X 射线荧光测量系统，非接触涂层测厚仪，用于在光滑和压印（包括带有铸模接触面）的轴带生产过程中，在线涂层测厚仪，进行连续的在线测量和分析
特点
- 用于在持续生产过程中对薄膜、轴带和冲压带上的涂镀层进行连续测量
- 可按照样品运动方向正确调整测量头的角度
- 操作简单，电镀层测厚仪，设置时间短
- X射线探测器可以为比例计数管，x荧光涂层测厚仪，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探测器
- 有定位装置，phynix涂层测厚仪，用于测量多个位置进行测量
- 根据客户需要专门设计
- 自动校准
- 可以快速地从一条生产线上转移到另一条生产线
- 可方便地集成到质量控制系统和过程控制系统中
典型应用领域
- 电镀条带，涂层测厚仪检定，例如接触点、冲压带
- 测量热镀锌钢带
- 太阳能薄膜电池（光伏产业
- 薄膜和条带上的金属涂镀层
- 电子工业及其供应商
- 生产过程监控
