X 射线荧光测量系统，国产涂层测厚仪，用于在生产过程中对薄镀层如 CIGS、CIS 或 CdTe进行连续在线测量和分析
特点
- 法兰测量头，安徽涂层测厚仪，用于在生产线中进行连续测量
- X射线探测器可以为比例计数管，数字涂层测厚仪，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探测器
- 在生产过程中直接用典型产品进行快速简单校
- 可在真空或大气中使用
- 可以在 500° C 的高温基材上进行测量
- 坚固和耐用是设计的重心
典型应用领域
- 光伏技术（CIGS，牛津涂层测厚仪，CIS，涂层测厚仪厂家，CdTe）
- 分析对金属带、金属薄膜和塑料薄膜上的镀层
- 连续生产线
- 喷射和电镀生产线监测
- 测量大面积样品
