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平头微升微量进样器

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具体成交价以合同协议为准

产品型号TC-011872

品       牌

厂商性质其他

所  在  地北京市

更新时间:2023-10-21 08:00:40浏览次数:1992次

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微量进样器/平头微升微量进样器/微升微量进样器 型号:TC-011872 微量进样器可供科研.化工.炼油.医院等单位作分析使用。特别适宜作气相色谱仪.液相色谱仪液体进行分析,是一种*的精密器械

 微量进样器/平头微升微量进样器/微升微量进样器 型号:TC-011872 
 微量进样器可供科研.化工.炼油.医院等单位作分析使用。特别适宜作气相色谱仪.液相色谱仪液体进行分析,是一种*的精密器械。其总容量误差±5%。气密性能承受0.2mpa。为了达到延长进样器的使用寿命,进样器分为无存液与有存液两种,现将使用中应注意事项作以下说明:  
一.0.5 µL-5µL无存液微量进样器  
    微量进样器/平头微升微量进样器/微升微量进样器 1.切忌重碱性溶液洗涤,以免玻璃受腐蚀失重和不锈钢零件受腐蚀损坏而引起漏水漏气。  
   2.本进样器是无存液之进样器。芯子(不锈钢丝)直接通到针*,故而不会出现寄存溶量,但使用后应立即清洁处理,避免芯子受污而卡死。  
   3.溶量指示芯子拉动不得过AG图案,若不慎拉过图案和全部拉出外套而塞不进,可重新装配,但装配时必须先旋出针尖螺母,再耐心地把芯子(不锈钢丝)先从硅橡胶垫圈中心穿过,再对准针尖孔,慢慢旋上针尖螺母,再推进芯子,不准直接串入,以免不锈钢丝折弯。  
   4.本进样器的气密性依靠针尖部位的硅橡胶垫圈密封。故使用时期较长后,垫圈易损或老化会影响气密性,必须进行调换,否则,将会影响容量精度和重复性。  
   5.本进样器的针尖不得在400℃以上的高温下工作,更不宜用火直接烧,以免针尖退火而失去穿戳能力。  

  
二.10 µL-100µL有存液微量进样器  
    1.切忌重碱性溶液洗涤,以免玻璃受腐蚀失重和不锈钢零件受腐蚀而影响漏水漏气。  
    2.本进样器系有存液之进样器,因而在吸取溶液时针尖管浸在溶液中来回拉几次,将针尖内的气泡排出(使用时必须排尽全部气泡),使用者必须注意,否则将会影响分析正确性和容量精度。  
     3.进样器针尖为固定式,不得拆下。针尖内孔为微小,因此不宜吸取有较粗悬浮物质的溶液。使用后应立即清洁处理,防止针尖堵塞。  
     4.若遇针尖堵塞,宜用φ0.1mm不锈钢丝耐心串通,不能用火直接烧,防止针尖受高热而退火失去穿戳能力。  
     5.本进样器不得在芯.套之间湿度不足时(将干未干时)将芯子多次来回拉动,以免发生卡住和磨损而造成损坏。  
     6.如发现进样器内有不锈钢氧化物(发黑现象)影响正常使用时,可在不锈钢芯子上蘸少量肥皂水塞入进样器内,来回来几次,就可去掉,而再洗清后即可

 

 

 

 

 

产品名称:胶质层指数测定仪 胶质层指数检测仪
产品型号:GZY-4B 

胶质层指数测定仪 胶质层指数检测仪型号: GZY-4B 
本系列设备主要用于煤焦化多种指标的测定,均符合标准 
    GZY-4B型 胶质层指数测定仪  
    本测定仪是用来测定烟煤的胶质层指数的仪器,符合GB/T 479-2000标准。本测定仪能自动控制两炉炉温,并绘出动态控温曲线,能自动记录和计算两炉煤杯内煤样体积变化曲线和终收缩度X值,并能计算出胶质层大厚度Y值。  
·计算机控制系统  
·试验炉体  
·部件 ·打印机(选配)

 

 

 

产品名称:涂层测厚仪 
产品型号:TC-1250

涂层测厚仪  型号:TC-1250

 

 

应用范围

本仪器采用磁性测厚法,可以方便无损的测量铁磁性材料上的非磁性材料涂层的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。

三、技术参数

性能/型号

TC-1250

测量范围(um)

0-1250

测量误差(um)

<3%+1

小示值(um)

0.1

显示方式

7位液晶数字显示

主要功能

测量

单探头全量程测厚

存储

可存入测量数据800个

读出已存入测量数据

统计

显示已存数据小值、平均值、大值

校正

配机标准试片校正

提示/报警

1、蜂鸣器对操作提示  2、低电压指示

电源

3.6V电池一节

功耗

大功耗100mW

外形尺寸

128×62×26mm

重量

150g

使用环境

温度:-10℃~+40℃   相对湿度:≤90%

基体小厚度

0.2mm

基体小平面

7mm×7mm

小曲率半径

凸:1.5mm     凹:6mm

注意:临界厚度小于工件铁基厚度大于1mm时,其膜层厚度的测量不受铁基厚度影响。

 

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