X射线测厚仪的使用注意
2022-08-25来源：互联网标签：测厚仪
X射线测厚仪所释放出来的X射线其实就是电子在收到撞击以后释放出来的光子能量，当外部电路供给到X射线测厚仪当中时，X射线测厚仪就会输出一个高大43KV的高电压，然后在高压状态下钨丝会发生变化，释放出强烈的电子，这些电子的能量光子化以后就可以形成特定光谱，射线照射进介质当中形成反射偏差，依据这种方式来进行厚的测量。X射线测厚仪可以用来探测磁性金属表面覆盖的非磁性涂层厚度，测量准度很高，使用灵活。
X射线测厚仪使用注意：
1、X射线测厚仪测量时侧头与试样表面保持垂直。
2、X射线测厚仪测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
3、测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
4、在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
5、测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
6、测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
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