开槽台式微区XRF光谱仪M2 BLIZZARD
M2 BLIZZARD是布鲁克公司推出的一款微区X射线荧光光谱仪, 依据ASTMB568和DIN/ISO 3497,对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。
采用开槽设计,非常适用于扁平形状和尺寸过大的样品,例如大型印刷电路板。
该仪器采用全新的、世界的XSpect Pro软件进行控制。
PCB 分析的理想解决方案
主要特性:
- 开槽构型,带可伸长的“超大尺寸”样品台
- 可以调节槽缝间隙(10或20毫米)
- 设有大型、耐用的样品托盘,用于样品定位
- 全新优化XSpect Pro操作软件
- 的XData软件用于应用程序,标准样品与数据库管理
- 可自定义设置用户界面和测试结果界面
- 具备波谱自动保存功能,用于测量后结果的再处理以及存档
- 用户设定公差,可以方便地判定“合格/不合格”
- “峰值查找器”,用于定性分析未知样品
- 软件含有测试报告模板以供客户编辑使用
- 配置工业强度的脚踏开关,用于“开始/停止”测量(可选项)
- 可*设置SPC软件,配合客户工艺需求(可选项)
- 仪器设计简洁坚固,只需一条USB电缆与PC连接
技术参数
M2 BLIZZARD的两种探测器选项。 可选用比例计数器(PC)或 高分辨率硅漂移探测器(SDD)
参数 | 规格 |
激发 | 微焦点,高性能,带侧窗,钨靶 |
高电压 | 50 kV,50W |
探测器 | 大面积正比计数器,感应面积1100 mm 2, 能量分辨率 < 950eV (Mn-Kа) |
选配探测器 | 高性能Peltier冷却XFlashR硅漂移探测器, 感应面积30mm2,能量分辨率 <150 eV (Mn-Kа) |
光斑尺寸 | 固定或4个自由切换,?0.1到1.5mm 其他准直器:例如槽式 |
样品视图 | 高分辨率彩色摄像系统,放大倍数~20倍 |
样品台 | 手动塑料样品托盘 Z轴自动聚焦,行程: 30mm |
定量分析 | 总体分析:基于标样的经验系数法模式, 无标样 的FP法(基本参数法)模式 镀层分析:FP-基本参数法模式 |
供电 | 110/230 VAC,50/60 Hz,zui大功率120W |
尺寸(宽x深x高) | 1055 x 688 x 430 mm |
重量 | 75kg |
依据 ASTM B568 和 DIN/ISO 3497 标准进行分析