快速冲击冷热试验箱/产冷热冲击箱适用于电子电器零组件、通讯组件、自动化零部件、汽车配件、化学材料、金属、塑胶等行业、航天、防工业、BGA、兵工业、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物对高、低温的反复抵拉力及产品处于热胀冷缩的物理环境产出的化学变化或物理伤害，可确认各种产品的品质,从的IC到重机械的组件，不需要它,目此设备是工业产业共认的理想测试工具。
快速冲击冷热试验箱/产冷热冲击箱 满足的标准有以下:
GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 2部分试验方法 试验A 低温;GJB360.7-87温度冲击试验;GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 2部分:试验方法 试验B:高温;GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件;GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件;GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件;GB/T 2423.22-2002温度变化;GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则;SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——箱式；SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备;GB2424.1 电工电子产品环境试验 高低温试验导则;GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;GJB150.3A-2009 装备实验室环境试验方法3部分高温试验;GB/T2423.22-1989温度变化试验；GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 4部分：低温试验;GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 5部分：温度冲击试验;GJB367.2-1987 通信设备通用技术条件 环境试验方法;GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验;IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估;QC/T 17-1992 汽车零部件耐候性试验般规则 汽车行业标标准等等包括其它产品行业标准。
温度冲击方法:垂直两箱法 / 静止三箱法。
常规型号和技术参数:
冲击箱常规型号:3AP-CJ-50
内箱尺寸W×H×D:360mm×350mm×400mm
外箱尺寸W×H×D:1560mm*1750mm*1440mm
冲击箱常规型号二:3AP-CJ-80
内箱尺寸W×H×D:500mm×400mm×400mm
外箱尺寸W×H×D:1700mm*1800mm*1440mm
冲击箱常规型号三:3AP-CJ-100
内箱尺寸W×H×D:600mm×400mm×400mm
外箱尺寸W×H×D:1800mm*1800mm*1440mm
冲击箱常规型号四:3AP-CJ-150
内箱尺寸W×H×D:600mm×500mm×500mm
外箱尺寸W×H×D:1800mm*1900mm*1540mm
冲击箱常规型号五:3AP-CJ-250
内箱尺寸W×H×D:700mm×600mm×600mm
外箱尺寸W×H×D:1900mm*2000mm*1640mm
备注：更多尺寸及容积可根据led产品的大小、长短做设计，如需非标定制业务部门咨询。
