优势供应phasics红外干涉仪SID4 SWIR----德国赫尔纳(大连)公司
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赫尔纳phasics红外干涉仪、phasics波前传感器、phasics剪切干涉仪、Phasics近红外波前分析仪SID4-SWIR
优势供应phasics红外干涉仪SID4 SWIR----德国赫尔纳(大连)公司
公司简介：
Phasics基于创新的高分辨率波前传感技术，提供*的测量和成像解决方案。它们满足激光工程师，镜片制造商和细胞生物学家的需求。Phasics解决方案均基于*的技术 - 四波横向剪切干涉测量法。该技术的开发是为了克服Shack Hartmann的局限性：它提供超高分辨率（高达400×300测量点），高灵敏度和大动态。此外，它结构紧凑，消色，易于使用，直接设置，无中继镜头。
主要产品及特点：
phasics红外干涉仪、phasics波前传感器、phasics剪切干涉仪、Phasics近红外波前分析仪SID4-SWIR
PHASICS波前分析仪产品介绍：基于其波前测量——四波横向剪切干涉技术（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。作为夏克-哈特曼技术的改进型，这种*的技术将超高分辨率和超大动态范围*结合在一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。
优势供应phasics红外干涉仪SID4 SWIR----德国赫尔纳(大连)公司
主要应用领域：
1.激光光束参数测量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直径，泽尼克/勒让德系数
2.自适应光学：焦斑优化，光束整形
3.元器件表面质量分析：表面质量（RMS，PtV，WFE），曲率半径
4.光学系统质量分析：MTF, PSF, EFL, 泽尼克系数, 光学镜头/系统质量控制
5.热成像分析，等离子体特征分析
6.生物应用：蛋白质等组织定量相位成像
产品特点：
1.高分辨率：多采样点可达120000个
2.可直接测量：消色差设计，测量前无需再次对波长校准
3.消色差：干涉和衍射对波长相消
4.高动态范围：高达500μm
5.防震设计，内部光栅横向剪切干涉，对实验条件要求简单，无需隔震平台也可测试
型号参数：
型号 | SID4 | SID4-HR | SID4-DWIR | SID4-SWIR | SID4-NIR | SID4-UV |
孔径mm | 3.6 × 4.8 | 8.9 × 11.8 | 13.44 × 10.08 | 9.6 × 7.68 | 3.6 × 4.8 | 7.4 × 7.4 |
分辨率μm | 29.6 | 29.6 | 68 | 120 µ | 29.6 | 29.6 |
采样点 | 160 × 120 | 400 × 300 | 160 × 120 | 80 × 64 | 160 × 120 | 250 × 250 |
波长 | 400 -1100 nm | 400 - 1100 nm | 3 ~ 5 µm , 8 ~ 14 µm | 0.9 ~ 1.7 µm | 1.5 ~ 1.6 µm | 250 ~ 450 nm |
动态范围 | > 100 µm | > 500 µm | N/A | ~ 100 µm | > 100 µm | > 200 µm |
精度 | 10 nm RMS | 15 nm RMS | 75 nm RMS | 10 nm RMS | > 15 nm RMS | 20 nm RMS |
灵敏度 | < 2 nm RMS | < 2 nm RMS | < 25 nm RMS | <3/1nm RMS | < 11 nm RMS | 2 nm RMS |
采样频率 | > 60 fps | > 10 fps | > 50 fps | 25-60 fps | 60 fps | 30 fps |
处理频率 | 10 Hz | 3 Hz | 20 Hz | > 10 Hz | 10 Hz | > 2 Hz |
尺寸mm | 54 × 46 × 75.3 | 54 × 46 × 79 | 85 × 116 × 179 | 50 × 50 × 90 | 44 × 33 × 57.5 | 53 × 63 × 83 |
重量 | 250 g | 250 g | 1.6 kg | 300 g | 250 g | 450 g |
赫尔纳贸易（大连）优势供应phasics红外干涉仪、phasics波前传感器、phasics剪切干涉仪、Phasics近红外波前分析仪SID4-SWIR
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