华翼H5050型高纯气体分析仪，配备了增强型等离子体检测器（Enhanced Plasma Detector，EPD）。EPD的原理是在检测器的石英小池周围加以高频、高强度的电磁场，在高频、高强电磁场的作用下载气和杂质气体被电离为等离子体，等离子体具有较高的能量，当样品进入检测器的石英小池之后，被等离子体电离并发出不同波长的光，经相应的滤光片及光电二极管后转换为电信号，因此，相比于痕量分析中常用的PDHID检测器，EPD选择性更好，灵敏度更高，另外，EPD可以选择氩气等相对低成本的载气种类，维护成本低于PDHID。
EPD提供了更好的信噪比以及更高的电离效率，是现有等离子体发射检测器（Plasma Emission Detector，PED）的升级换代版本大的优势在于其聚焦/稳定和电子注入电极技术，以及高度稳定的频率控制系统。目前其他商品化PED存在的主要缺陷是稳定性差，表现在三个方面：一是等离子体在常压下的不稳定性；二是等离子体石英池内表面的电荷聚集效应；严重的是石英池内表面、尤其是放电电极附近的位置，受长时间溅射效应的影响，会逐渐粗糙化，导致色谱峰的拖尾/展宽，进而灵敏度减低，而EPD所采用的*技术在一定程度上避免了上述缺陷。
聚焦/稳定技术 
PED（现有等离子技术）和EPD基线噪音的对比
技术特点
●操作自动化程度高，用户只需按动一次启动键，即可完成样品分析。
●采用了加拿大ASDevices公司的增强型EPD检测器，该检测器对耐用性气体杂质的检测限可达1 PPB。
| 杂质种类 | H2 | O2 | N2 | CH4 | CO | CO2 | |
| 检测限（ppb） | 氦载气 | 1 | 1 | 1 | 1 | 1 | 1 |
| 氩载气 | 5 | 5 | 5 | 5 | 5 | 5 | |
●选用经特殊处理的色谱柱，消除了色谱柱对O2、CO等痕量组分的非正常吸附现象。
●所采用的进样阀及切换阀均为进口带吹扫功能的产品，在保证仪器耐用性的同时，消除了空气渗漏对样品分析结果的影响。
●所有的接头及管线均经过抛光处理，且接头处经高精度加工处理，一是为防止气体泄漏，二是将系统死体积降至低，三是减小某些痕量组分的吸附。另外，色谱柱两端的密封方式为VCR密封，其他接头均采用镀金卡套密封，泄漏量比普通卡套形式低一个数量级。
●采用背压阀控制的升压进样方式，能够消除进样波动并获得相对较高的分析灵敏度。
●所有管线，包括色谱柱管，均为进口产品，保证管壁光洁度。
●仪器配备有的载气减压器、进口载气纯化器及采样器，保证分析结果的准确性。
●可配备我公司*的氧氩分离组件，用于分析氩气之外样品气中氧及氩含量，尤其在分析高纯氧中杂质含量时，无需采用脱氧装置，能够大大减少设备维护工作量。
谱图样例
氦气中H2、O2、N2、CH4、CO（均为1 ppm）
