电位分析仪

参考价	¥ 770
订货量	≥1 件

具体成交价以合同协议为准

公司名称美国布鲁克海文仪器公司
品牌
型号
所在地上海市
厂商性质经销商
更新时间2020/4/16 18:07:41
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公司介绍主营产品

美国布鲁克海文仪器公司（BIC）是世界上的专业从事设计、开发和生产颗粒特性表征以及分子量测定仪器的高技术公司，其专家组成员包括在光散射研究领域具声望的科学家，在他们的*下，并经过*的研究与实践，确立了BIC在光散射领域的主导者地位。

九十年代以来，BIC不断推出新产品，包括相位光散射原理的Zeta电位分析仪(ZetaPALS)、高浓度粒度分析仪(BI-FOQELS)、实时在线粒度测量系统（ACOS）、数字相关器（TurboCorr）、以及多角度激光光散射仪（BI-MwA）与动静态光散射系统(BI-200SM)等等，这些仪器所采用的技术都代表着该领域的很高成就。

²一台数字相关器
²一块单卡式数字相关器
²一个将背向光散射技术用于商业仪器
²一个使用插入式电极用于Zeta电位测量
²一个将X-射线用于粒度分析
²一个将PALS技术商业化
²一个将CCD检测器用于多角光散射
²一台实时在线粒度测量系统（ACOS）

BIC全面的光散射仪器为客户提供系统的实验解决方案。目前，BIC的仪器已广泛应用于包括中国在内的各国顶实验室的研究中。BIC的总部设在美国的纽约，在40多个国家设有分支机构。在中国设有技术服务中心和3个代表处，为客户提供及时周到的技术和支持与售后服务。

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分析仪

产品简介在线询价

产品种类	在线	加工定制	否

电位分析仪拥有15°、90°与173°三个散射角度，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，硬件PALS技术*解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的精确测量

电位分析仪产品信息

Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪完美结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术，拥有15°、90°与173°三个散射角度，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，硬件PALS技术*解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的精确测量，是目前市场上功能强大的粒度与Zeta电位分析仪。

作为先将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，Brookhaven公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合15°、90°与173°三个散射角度与硬件PALS（相位分析光散射）技术的Omni多角度粒与高灵敏度Zeta分析仪。随着Omni的出现，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，实现在同一台粒度分析仪中，既可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，高可达40%wt；硬件PALS技术（与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍）的应用，*解决了*以来无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下（电泳迁移率比通常水相条件下低10－1000倍，传统方法没有足够的分辨率进行测量）的样品进行分析的难题。Omni是目前市场上功能强大的粒度与Zeta。

NanoBrook产品系列

项目		173	173Plus	Omni	ZetaPALS
功能	粒度测量功能	●	●	●	○
	分子量测量功能	●	●	●	○
	Zeta电位测量功能	○	○	●	●
技术参数	散射角	15°与173°	15°、90°与173°		○
	粒度范围	0.3nm-10μm			○
	分子量测定范围	342～2×10⁷Dalton			○
	相关器	4×522个物理通道，4×10¹¹个线性通道			○
	Zeta电位适用粒度范围	○		1nm～100μm
	Zeta电位范围	○		－500mV～500mV
	电导率范围	○		0-30S/m
	电泳迁移率范围	○		10^-11～10^-7m²/V.s
	电极	○		开放式*型电极
系统参数	温控范围与精度	－5～110℃，±0.1℃
	激光源	40mW光泵半导体激光器
	检测器	PMT或APD
	分析软件	Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件
	大小及重量	233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg
选件	BI-ZTU自动滴定仪	可对PH值、电导率和添加剂浓度作图
	BI-870介电常数仪	直接测量溶剂的介电常数值
	BI-SV10粘度计	用于测量溶剂及溶液的粘度