XTU-50A X荧光光谱仪精密微型滑轨：精密的手动移动平台，快速准定位所需检测的样品。
EFP*算法软件：可检测单镀层，多镀层，多元合金，甚至对于同种元素在不同层的厚度检测也能分析，包括轻金属镀层，非金属镀层，达克罗，Nip镀层测试，包括Ni与P的比例也均可检测。
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片电动切换，满足各种测试方式的应用。
新一代高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率。
高效的散热系统：对流通风过滤式风冷，仪器即便全天候开启，都可保持恒温恒效。
XTU-50A X荧光光谱仪技术参数：
接收器：日本东芝正比计数管，窗口面积≥150mm²
射线准直系统：垂直光路交换装置搭配黄金准直器
视频观测光路系统：垂直光路交换装置搭载100mm变焦镜头
测样读取开启方式：恒压恒流快门式光闸
滤光片：铝、空、镍
准直器：ø0.2mm；ø0.5mm；两准直器任选一种
近测距光斑扩散度：10%
小测量面积：约0.04mm²
测量距离：具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异形样品，变焦距离0-30mm
样品观察：1/2.5彩色CCD，全局快门，有效像素：1280*960，变焦功能
测量面积：小0.04mm²
- 镀层分析：23层镀层24种元素
- 仪器特点：可手动变焦
- 仪器优势：同元素不同层分析
