J200飞秒激光剥蚀进样系统无需高度匹配的标准物质，也能进行高精度、定量LA-ICP-MS测量，用户可*依靠J200系统输送高质量的样品颗粒到ICP-MS系统，ASI公司的技术团队拥有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景，J200系统产生的样品颗粒均匀一致，且尺寸分布合理，一般在10-200nm，运输效率高，J200LA-fs系列剥蚀样品精度高，且没有热效应。
扫描样品：
J200LA-fs 的两个相机提供广角和放大的样品图像。∫ Integra允许用户先获取样品的广角图像，然后在图像上扫视不同的位置，高倍放大选定点。
深层元素分布：
采用飞秒LA-ICP-MS系统还可以对植物叶片进行深度的剖析。测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况。实验使用飞秒激光器，10个脉冲，脉冲1至脉冲10表示叶片的表层至内部。
元素分布图谱：
技术参数：
1、设备重量：600 lbs [272Kg](仅LA主机)；600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS检测器)；
2、LIBS检测器：Czerny Turner光谱仪 / ICCD检测器(仅适用于Tandem系统)；
3、自动X-Y轴：100mm X 100mm行程范围，分辨率0.2微米；
4、激光光闸：自动光闸保证激光能量稳定；
5、供电要求：110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保险10A；
6、激光安全等级 一级激光产品，样品加载区域有光学安全隔离板，激光自锁保护装置。
J200飞秒激光剥蚀进样系统是LA-ICP-MS技术向高精度、高准确度、高灵敏度水平发展的重大突破，为了准确定量的分析元素和同位素，需要高精度的、与测量样品相匹配的标准物质，ICP源的颗粒能*被消解，产生稳健、恒定的瞬时ICP-MS信号。用户可*依靠J200系统输送高质量的样品颗粒到ICP-MS 系统，在LA-ICP-MS测量过程中引起元素或同位素分馏的两大主要过程：（1）非化学计量物质剥蚀的热过程；（2）大样品颗粒在ICP源不*消解。
