XTDP三维光学摄影测量系统使用普通单反相机（非量测相机），通过多幅二维照片，基于工业近景摄影测量原理，重建工件表面关键点三维坐标。用于对中型、大型（几米到几十米）物体的关键点进行三维测量。与传统三座标测量仪相比，没有机械行程限制，不受被测物体的大小、体积、外形的限制，能够有效减少累积误差，提高整体三维数据的测量精度。可以代替传统的激光跟踪仪、关节臂、经纬仪等，而且没有繁琐的移站问题，方便大型工件测量。
系统主要由高性能单反相机、编码标志点、非编码标志点、标尺、计算机及检测分析软件等组成。
XTDP三维光学摄影测量系统特色
- 国内自主研发的工业近景摄影测量系统
- 高精度的相机标定算法，适用于多种数码相机
- 自主知识产权的核心算法，达到*进水平
- 测量范围大：可测量0.3m~30m范围的物体
- 测量精度高：zui高精度可达±0.015mm/m
- 测量速度快：拍照方便快速，计算速度快，测量结果三维可视化
- 具备CAD数模对比模块，可用于质量检测
- 具备静态变形测量模块，可测量工件变形数据
- 操作方便：设备不需要事先校正，使用方便，对操作人员无特殊要求
- 适应性强：不受环境及测量范围限制，可在车间或工业现场测量
- 便携式设计：设备轻便，单人可携带外出开展测量工作
