超声波试块CSK-IIIA试块
测试方法：根据被检工件厚度及标准要求，选择一组合适的试块。将已测试好的直探头置于示意图所示检测面上，依次测试一组不同检测距离的φ2mm或φ3mm或φ4mm平底孔（至少3个），制作直探头距离-波幅曲线，并以此作为基准灵敏度。在此基础上增益6dB作为扫查灵敏度。
测试方法：依据检测试件的厚度及标准要求选择合适的试块，将选用已校验好的双晶探头置于示意图中a位置，前后左右移动探头使直射声束在平底孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值。探头置于示意图中b位置，前后左右移动探头使直射声束在平底孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值，此为第二点。探头置于示意图中c位置，前后左右移动探头使直射声束在平底孔上得到反射回波。将回波幅度调整至满屏的80%高度，记录此时的dB值，此为第三点，以此类推直至范围可*覆盖检测厚度（至少测试三点），并将以上各点连成一条曲线，此曲线即为双晶直探头距离-波幅曲线，并以此作为基准灵敏度。在此基础上增益6dB作为扫查灵敏度。
