产品简介：15JE测量显微镜可进行直角座标中的长度测定（如测定孔距、基面距离、刻线距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、通孔外圆直径等）、转动度盘的角度测定（如对刻度盘、样板、量规、钻孔模板及几何形状复杂的零件的角度测量）、显微观察（以比较法检查工作表面光洁度，鉴定冶金工业的矿石标本，检定印刷照相制版，检验纺织纤维等）。
产品型号 | 15JE测量显微镜 |
技术参数 | 1、目镜：倍率5×，焦距5mm 2、物镜：倍率2.5×、10×，数值孔径0.08、0.25，焦距43.4mm、17.13mm 3、总放大倍数：25×、100× 4、工作距离：58.84mm、7.81mm 5、视场直径：5.6mm、1.4mm 6、移动测量范围：X轴50mm、Y轴13mm 7、测微器分度值：0.001mm 8、测量台：移动范围不限，刻度盘分度范围0-360°，刻度盘分度值1°，刻度盘游标读数示值6' 9、示值误差：±（5+L/15）µm（测量地点温度变化20℃±3℃，L为被测件长度，单位为mm） 10、测量台与物镜大距离：80mm 11、测量工作台直径：Φ120mm 12、光源：自然源 |
产品规格 | 尺寸：262mm×220mm×325mm；重量：10.6kg |
可选配件 | 40×平场物镜 |
