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纳米粒度分析仪 粒度/颗粒/粉末分析仪器

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  • 公司名称杭州嘉维创新科技有限公司
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  • 厂商性质经销商
  • 更新时间2023/8/31 9:49:00
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杭州嘉维创新科技有限公司是多家世界一线仪器设备制造商的合作伙伴。主要面向高校、科研机构、工矿企业销售进口分析、测试、制备仪器设备的专业公司,竭力为技术创新科研创新服务。
 

仪器仪表
纳米粒度分析仪:N4Plus是采用激光法测超细颗粒的仪器,激光法测颗粒度,是基于ISO13321标准分析颗粒粒度的一种方法,即利用运动着的颗粒所产生的动态 的散射光,通过光子相关光谱分析法PCS(Photon Correlation Spectroscopy)分析纳米颗粒粒度,其特点是快速、准确、分辨率高。
纳米粒度分析仪 粒度/颗粒/粉末分析仪器 产品信息

       

      纳米粒度分析仪

           纳米粒度分析仪技术参数

           1.测量范围: 3-3,000nm
           2.测量时间:30-180秒
           3.重现性: 优于3%CV
           4.可区别平均粒度比大于2.5的两个峰
           5.精度: 2-5%

          主要特点

         1.是采用六个角度(在0-900C角度范围)检测的仪器
         2.的指纹分析给出六角度的Unimodal分析图,快速判别样品类型

 

Zeta电位和分子量分析仪的技术参数

1、粒径测量
大粒径范围: 0.3 nm - 10 μm * 
浓度范围: 0.1ppm – 40% w/v * 
检测角度: 175o 和 12.8o 
小样品量: 12 μl 

2、Zeta电位测量 
Zeta电位范围: 无实际限制 
电泳迁移率: 0 – 无实际上限 
大样品电导率: 200mS/cm 
大样品浓度: 40% w/v 
小样品量: 150 μl 
粒径范围: 3.8nm - 100 μm *

3、分子量测量
分子量范围 342 - 2 ×107 Da * (动态光散射) 
980 - 2 ×10Da * (静态光散射) 
小样品量  12 μl

* 取决于样品

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