日本ecginc匝间短路检测仪DWX系列
低电感・线圈测试的决定版！
10μH线圈波形清晰显示
随着电子器械的高度化，被使用的线圈部品也变得越来越小型化高周波了。DWX是一种 适合各种电感线圈测试的仪器。此仪器搭载了高速开关的脉冲电源，采用高速·A/D取样 电路，成功的解决了目前较难的低电感线圈测试问题。
DWX系列的特点
成功的实现了目前较难的低电感线圈测试
随着电子器械的高度化，被使用的线圈部品也变得越来越小型化高周波了。DWX是一种 可以对应各种电感线圈测试的仪器。此仪器搭载了高速开关的脉冲电源，采用高速·A/D取样 电路，成功的解决了目前较难的低电感线圈测试问题。 。
通过阻抗分压提高了波形的准确度以及放电感应的强度
脉冲波形入力回路中，因为采用了高性能阻抗分压回路，所以能够得到清晰准确的波形，而且提高了波形判断能力以及放电检出感应度。
（＊和本社DW・DWS系列（不含F类型）比较，大大提高了检出感度。）
通过高速lOOMHz・8KPoint·取样实现了高感度，高精度的测试
高速A/D取样，可以准确的捕捉到低电感・线圈的极短脉冲应答的同时，而且8KPoint・取样的高精細数据判定，还可以确切判定微少芯波形。
应用了Laplacian算法的放电量检测，子窗口页面显示，清晰易懂
通过使用Laplacian演算的波形解析，抽取由高压脉冲产生的放电成分，并在每个图形的子窗口上直观，易懂显示放电测试。
8.4英寸・彩色TFT液晶画面，清晰可见
保留了原有的AREA,DIF-AREA,FLUTTER等短路测试判定功能
波形判定中有AREA判定（面积比较）・DIF-AREA判定（波形差面积比较）・FLUTTER量检出（放电量检出）・LAPLACIAN量量检出（放电量检出）的检查方法等多种组合，适用于各种线圈的测试试验。
Compact Flash Memory Card・插卡标准装备可以使标准波形无限扩张
匝间短路检测仪的概要
匝间短路检测仪可以对线圈做到有效的，非破坏性测试。
其原理是将相同的脉冲电流传递给标准绕组（主线圈）和被测绕组（采样线圈），比较瞬态现象波形，并判断质量。瞬态波形，即在线圈中产生的减衰振动波形表示电感和Q，并且可以同时确定线圈的匝数差，层厚度，或确定材料的差异等等。施加更高的脉冲电压还可以从电晕放电中检测出绝缘缺陷。 换句话说，可以在非常短的时间内可以对线圈做各种检测
日本ecginc匝间短路检测仪DWX系列
DWX系列性能
| DWX-01A | DWX-05A | DWX-10 | ||
|---|---|---|---|---|
| 施加电压・电压可调档位 ・施加能量 ※ 抵抗负荷为１ＫΩ | 50V～1000V （10V档） z大5m焦耳 | 500V～5000V （100V档） z大0.12焦耳 | 1000V～10000V （100V档） z大0.5焦耳 | |
| 测试电感范围 | 10μH以上 | 10μH以上 | 50μH以上 | |
| 采样・速度 / 内存 | 8bit／10nano-sec.（100MHz） / 8192-Byte | |||
| 采样・范围 （WIDTH） | -4，-3，-2，-1，0，1，2，3，4，5 10个范围（0 DW系列互换） | |||
| 测试输入回路 | 电阻分压（5MΩ） | |||
| 画面显示，波形显示范围 | 640×480（VGA），8.4寸彩色液晶，4色表示 512×256 | |||
| 判定方法 | 和标准波形比较 根据波形面积，波形差面积，放电量进行比较判定 线圈绝缘破坏电压测试功能 | |||
| 标准波形 储存容量 | 主机扩张 | 196种（14种／14页） Compact Flash Memory700中（14种／50页） | ||
| 外部接口 | 并行口I／O（Start，Reset，OK，NG，Busy，Master等） RS-232C（测试控制 测试数据） 打印机板（画面硬拷贝等） EtherNet适配器（可选） | |||
| 附件 | 测试电缆线1.5M 1根，电源线1根（付3P转换头） Compact Flash Memory 1个，并行口I／O连接器1个 使用说明书・测试成绩书 1份 | |||
| 使用条件 | 0℃～40℃ 电源电压：100V～240V±10％（出厂时工厂设定） | |||
| 外形尺寸 （不含Carry Handle） ・重量 | 345(W)×185(H)×370(D) 约10Kg | 345(W)×325(H)×370(D) | ||
