主要特点
- 采用远方高精度光谱测量技术,精度高、测量速度快、稳定性好
- 采用背照式高精度阵列探测器和衍射光栅,并采用带通色轮校正(BWCT)等多项杂散光修正砖利技术,具有*的光谱测量分辨率、机低杂散光
- 高性能准直光源,保证宽波段范围的测量条件
- 自带校正及标定功能,方便用户自行校零和定标
- *的紫外-可见波段的双光路设计,可对光源进行监控和自动补偿,减少光源变化带来的误差
- 极宽的光谱测量范围:280nm-2500nm
主要技术指标
测量功能 | 可见光透射比、紫外线透射比、太阳光透射比、可见光反射比,及材料的光谱透射率曲线、材料的光谱反射率曲线、材料的色空间、色差等颜色参数。 |
波长范围 | 280nm-2500nm; |
波长准确度 | 280-800nm波段:±0.3nm; 800-1600波段:±0.5nm; 1600-2550波段:±3nm; |
半峰带宽 | 280-800nm波段:3nm; 800-1600波段:9nm; 1600-2500波段:15nm; |
照明/接收条件 | 反射 5°/5°,透射:0/0 |
反射率范围 | 0-200%,分辨率0.001% |
照明孔径 | Φ20mm |