概述：
TSM超细颗粒粒度分析仪是一种基于消光法原理的新型颗粒粒度分析仪器，用于测量超细颗粒的粒度分布。本仪器由主机，计算机和打印机，仪器操作软件等组成。仪器具有操作简单，测量时间短，操作软件良好的人机对话界面等优点。可广泛用于电子，光学，化工，医药等行业测量超细固体颗粒、悬乳剂、悬浮液等的颗粒和液滴的平均尺寸和尺寸分布。以表格形式和直方图形式给出被测颗粒的粒度分布和累积分布的测量结果，以及D32， Dv50等多种平均粒径和比表面积。
主机内包括光源，光学系统，测量样品池，光电信号转换及放大系统，A/D数据采集卡等。主机输出信号通过USB电缆与计算机的USB口相连接，计算机对主机测量进行控制和数据处理，并打印输出结果。
技术特点：
1、大功率白色光源
2、采用国产光谱接收器
3、集多年研究之成果，*消光理论的应用
4、*反演算法，保证颗粒测量的准确
5、USB接口，仪器与计算机一体设备，10.8寸触摸屏，直接显示数据与粒径分布，可连接U盘、打印机、鼠标等。
6、微量固定样品池，超高感应灵敏度，仅需少量样品
7、软件个性化，提供测量向导等众多功能，方便用户操作；
8、测量结果输出数据丰富，保存在数据库中，能用任意参数，如操作者姓名，样品名，日期，时间等进行调用分析，与其他软件实现数据共享；
9、仪器造型美观，体积小重量轻；
10、测量精度高，重复性好，测量时间短；
11、软件提供众多物质折射率供用户选择，满足用户查找被测颗粒折射率要求；
12、考虑到测试结果的保密要求，只有操作者才能进入相应数据库读取数据和处理；
技术参数：
型号 | TSM-A1 | |
光源功率 | 20W 12V 卤素灯 | |
接收器 | 国产光学光谱接收器 | |
粒径测量范围 | 0.05μm－10.0μm | |
重复测量误差 | < 2％ | |
测量误差 | <3％ (用国家标准颗粒检验)； | |
数据输出 | 体积、数量微分分布和累积分布表和图表；多种统计平均直径；操作者姓名、单位、样品名；选用折射率，测量时间等相关信息。 | |
用户登录功能 | 可以设置多位用户与密码，由不同的人员操作 | |
审计追踪功能 | 监控每个用户对设备的所有操作 | |
通讯接口 | USB接口 | |
样品池 | 固定样品池4.5mL | |
测量分析时间 | 正常条件下小于1分钟（从开始测量到显示分析结果）。 | |
工作环境温度 | 5－30 ℃； | |
电源 | 180－240V，50 Hz； | |
外形尺寸 | 320 mm×280 mm×120 mm； | |
重量 | 8kg | |
显示方式 | 1. 1、内嵌10.8寸超大工业级别的电脑，无需另配电脑，一体化设备 2. 2、预安装软件，无电脑适应性问题，减少由于更换使用电脑，安装驱动错误导致的连接等问题 3. 3、配置WIN 10系统，拥有32GB容量、2GB系统内存，无需使用U盘转移数据，仪器内部即可存储，操作方式触摸屏与鼠键均可使用 | |
工作条件：
1.室内温度：15℃-35℃
2.相对温度：不大于85%（无冷凝）
3.建议用交流稳压电源1KV，无强磁场干扰。
4.由于在微量级的范围内的测量，仪器应放在坚固可靠、无振动的工作台上，并且在少尘条件下进行测量。
5.仪器不应放在太阳直射、风大或温度变化大的场所。
6.设备必须接地，保证安全和高精度。
7.室内应清洁、防尘、无腐蚀性气体。
工作原理：
消光法(Extinction)是光散射颗粒测量技术中的一种，又称浊度法(Turbidimetry)。
消光法的原理简单，测量方便，对仪器设备的要求较低，测量范围相对较宽，下限为数十个纳米，上限约10mm左右，测量结果准确，重复性好，测量速度快。因此，该方法不仅在胶体化学，高分子化学以及分析化学等实验室分析中得到了广泛应用，还在在线测量中得到越来越多的应用，如对高分子聚合过程的测量和监控，内燃机排气中固体微粒粒径的测量，大型火力发电厂和原子能电厂中蒸汽湿度和水滴直径的测量，烟尘排放浓度的监控等。
消光法的测量原理如图1所示。如果一束直径远大于被测颗粒粒径、强度为I0、波长为λ的平行单色光入射到一含有被测颗粒群的介质时，由于颗粒对光的散射和吸收作用，光的强度将受到衰减
