X-RAYX射线测厚仪
菲希尔Ficherscoper X-RAY X射线荧光光谱仪
无论是高精度镀层厚度测量或是**材料成分分析，FISCHER众多系列的X射线荧光光谱仪可以为任何应用提供*佳仪器选择。除了拥有很多的**和砖利之外，FISCHER-SCOPE X-RAY产品线还具备近30年的经验，并且仍在不断的发展中。
确定细小结构和大型工件上的单一或复合镀层、RoHS要求的痕量分析、测试珠宝和黄金或在连续生产线上在线测量，FISCHERSCOPE X-RAY仪器*实验室和生产要求。
仪器智能控制软件称为 WinFTM. 。它不仅使操作简单化，而且为类似软件在多功能性及高**性方面设立了标准。
菲希尔Ficherscoper X-RAY X射线荧光光谱仪
XUL系列型号的X射线荧光光谱仪，设计紧凑，用于测量镀层厚度和分析材料。X射线源和探测器位于测量室的下方，样品可以直接放置在测量台上轻松定位。
尽管结构紧凑，但是XUL型仪器配置了大体积的测量腔和手动控制的XY工作台，是测量电镀件（如:螺丝，螺钉或螺帽，或装饰镀层）的理想选择。另外，电镀液的金属含量也可以快速而方便地分析。
菲希尔Ficherscoper X-RAY X射线荧光光谱仪是专为测量细小工件而设计的。它配备了微距焦X射线管、可自动切换的准直器和多种基本滤波器，特别适合于测量微小样品，如：插针、接插件和线材以及对印制电路板的手动测量。
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®界面友好的XAN型仪器十分适用于生产业务和研发领域中的材料分析测试。
专门为黄金珠宝业设计的XAN型仪器，可用于快速、无损测量产品真伪，并准确确定实际的金含量。对于黄金及贵金属合金的详尽分析快速而直接。
配备了硅漂移探测器后，XAN250型仪器能分析薄镀层，复杂合金及粉末、液体及尘埃的成分，这也是它为什么广受实验室、测试机构及贵金属冶炼厂、海关检验等机构欢迎的原因。仪器出色的重复精度，可以与灰吹法相媲美。
X-RAYX射线测厚仪
