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薄膜测厚仪

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具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称北京美亚先科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号MP-20
  • 所  在  地
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2021/8/25 18:10:57
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  北京美亚先科技有限公司(Beijing Meiyaxian Technology Co. Ltd)简称美亚先科技,自从2009年成立之初就一直致力于将欧美和亚洲的*技术与产品择优引入中国市场,通过学习、消化、吸收的工艺技术,尝试、引进、共享这些高科技产品带来的益处,并促其在广袤的中国市场上扎根发芽、开花结果、发扬光大。为中国经济的腾飞发达,出一份绵薄之力。故此,融合○共享○发扬成为北京美亚先科技有限公司成长壮大深层次的文化理念。  北京美亚先科技有限公司积极服务于科研教育、计量校准、车辆检测、数据采集、显微分析、工、工业控制与自动化等多个行业,产品线包括:● 探针台系列用于半导体特性分析与设计测试等的各式探针台及其配套产品,包括探针台台体、探针座、探针夹具/线缆、探针及显微镜、真空泵、视像采集、防震桌、屏蔽箱、温度或磁场控制装置等,细分品类有上百种之多。适合于晶圆测试,器件失效分析/可靠性分析,材料特性分析,光电器件与平板显示器、射频与微波器件、生物芯片、微纳器件的物理化学特性测试以及半导体设计等多个领域。● 计量校准系列省地级或部门行业的计量校准/质量检验院所,国内的企业级的计量校准实验室,从达国家标准级的产品到适合企业使用的常规计量仪器都有覆盖。包括电容标准和电容电桥系列;电阻标准、精密分流器和高压分压器系列;用于高温和光谱辐射标准的高温黑体炉和LP4/LP5高温计系列;还有十进制电阻箱/电容箱/电感箱,多功能校准器及电流、电压、温度、压力等的现场校准仪器等。● 显微分析系列除了可以提供金相显微镜、体视显微镜、ZOOM显微镜及视像采集CCD等配套产品外,还可提供包括用于三维(3D)形貌分析的激光共聚焦显微镜,适用于半导体晶元、微纳米/MEMS器件、各种材料表面分析等领域;也可提供用于样品材料化学成分分析、晶体结构、分子间相互作用、分子取向以及形貌特征等的便携式拉曼光谱仪,适用于石墨烯、表面增强、食品药品安全、宝玉石鉴定、生物物理化学材料分析等领域。● 可编程电源系列的精密、可编程电源及电子负载全系列产品线,广泛应用于多个工业领域的研发、自动测试设备(ATE)、过程控制、电源总线模拟及电源调节方面。包括直流台式电源、直流机架式电源、直流模块化电源、交流电源、交流/直流电子负载,覆盖AMETEK、ELGAR、AMREL、Sorensen、California Instruments和Xantrex等世界。● 车辆检测系列用于汽车(包括电动汽车)及其他车辆的检测,包括车门关闭速度与能量测试系统(Door Speed)、引擎NVH检测系统、马达NVH检测系统、无线引擎转速计、CAN总线分析测试系统等,高性能硬件+方便易用的软件构成完整的解决方案。● 数据采集与工业控制系列数据采集与工业控制简称数采与工控系列,包括应力应变量测系统、振动与加速度量测系统、多功能数据采集器(FleXense)、以及用于电动汽车、自行车齿片耐久性、CVT和引擎的动力计/测功机系统等。● 其他测试与测量系列  ? 通用的测量仪表如数字源表、SMU源测量单元、示波器等;  ? 专业的半导体特性分析仪、IV/CV/PIV分析仪;  ? 极弱信号测量仪器如静电计/高阻计/微电流pA计、纳伏表、微欧姆计;  ? 极微小物理/化学变化测量工具,高灵敏度+准度的电容电桥;  ? LED/OLED/LD/PD及LED照明产品的光色电测量系统;  ? LED/LD的老化与可靠性测试系统;  ? 四探针测量系统;  ? 变形IV/微力测试系统;  ? 射频/微波网络分析仪;  ? 负载牵引Load Pull系统;  ? 低温膨胀计;  ? 纳米微定位器/微注射器;  ? 电生理实验室使用的拉针仪;  美亚先科技持续追踪新的科技领域、前沿学科的动向,引入的产品线仍在不断优化和扩充中。既可以直接在网站中按照产品分类进行查找、也可按照代理品牌或者应用方案分类来查找,以便我们的广大客户可以快速便捷地找到所关注的产品、应用等有价值的信息。为了增强用户的产品体验,在充分利用电话、网络沟通工具解答产品信息、应用咨询的基础上,对主要产品我们还可以免费提供试用服务。  美亚先科技已经与多家跨国公司建立了良好的合作关系,成为多个公司在中国大陆、香港澳门市场的代理或代理,包括中国台湾奕叶(EverBeing)探针台系列;美国安登?海格林(Andeen-Hagerling)的电容标准与电容桥系列;美国欧姆实验室(Ohm-Labs)的电阻标准/分流器/分压器系列;美国Thermo Gauge的高温黑体炉和辐射率测量系列;英国时代电子(Time-Electronics)的电阻箱/电容箱/电感箱、多功能校准器及电流、电压、温度、压力等的现场校准器系列;车辆检测系列+数据采集与工业控制系列;韩国Nanoscope Systems的激光共聚焦显微镜系列+便携式拉曼光谱仪系列;美国Sutter微操纵器/拉针仪系列;美国AMETEK可编程电源系列;美国Vektrex光电测试与老化系列;美国 GGB射频微波(RF+MW)探针系列;美国Keysight/Agilent、Tektronix/Keithley、Tegam电子测量仪器系列等。  美亚先科技有限公司总部位于北京,在上海和广州设有办事处;在为广大中国客户带来*的、性价比更高的产品的同时,更加积极地为客户提供的服务,已经与多家公司合作建立了中国区技术支持与服务中心,解决相关的技术、应用、备品备件及维修等问题,我们为全部所售产品,提供完善的保修和售后服务,使您使用无后顾之忧。同时,基于多年的积累的经验,也可为别的品牌提供维修与部件更换服务,包括但不限于 CASCADE、Micromanipulator、Signatone、仪准、展芯、鑫志尚/Semishare、Guildline等。  美亚先科技的技术人员,热忱欢迎您通过网站、电子邮件、电话手机、微信、商桥等与我们联系,促进并实现欧美和亚洲的*技术与中国市场的融合、共享与发扬的使命。
电子探针
MProbeVis薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量
薄膜测厚仪 产品信息
MProbe Vis薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚合物涂层(聚对二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被MProbe Vis测厚仪测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚合物涂层(聚对二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)。
测量范围: 15 nm -50um
波长范围: 400 nm -1100 nm
MProbe Vis薄膜测厚仪适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等。
测量指标:薄膜厚度,光学常数
界面友好强大: 一键式测量和分析。
MProbe Vis薄膜测厚仪实用的工具:曲线拟合和灵敏度分析,背景和变形校正,连接层和材料,多样品测量,动态测量和产线批量处理。


性能参数:

基本规格
精度准确度稳定性光斑大小样品尺寸
0.1Å or 0.01% (greater of)0.2% or 10A (greater of)stability 0.2A or 0.02% (greater of)2mm standard (optional to 20µm)from 4mm
s.d. of 100 thickness reading of 100nm SiO2/Si calibration samplefilmstack dependent2 sigma over 20 days (100 measurements daily) on 100nm/Si calibration sample  
 
系统参数
型号波长范围(nm)光谱仪/探测器光源厚度
Vis400-1100Spectrometer F4/Si CCD 3600 pixels/ ADC- 16 bitTungsten-Halogen15nm- 75µm
UVVisSR200-1100Spectrometer F4/Si CCD 2048 pixels/ ADC- 16 bitDeuterium/Tungsten-Halogen1nm-75µm
HRVis700-1000Spectrometer F4/Si CCD 2048 pixels/ ADC- 16 bit /resolutionTungsten-Halogen1µm-400µm
UVVis-RT200-1000F4/Si CCD 2048 pixels/ ADC 16 bit/Optical Switch(Reflectance & Transmittance)Tungsten-Halogen1nm-75µm
NIR900-1700F2 Spectrometer InGaAs CCD 512 pixels: ADC- 16 bitTungsten-Halogen50nm- 85µm
VisNIR400-1700Two spectrometer channels/ detectors (F4 Si 3600 pixels CCD and F2 InGaAs 512 pixels PDA) /ADC- 16 bitTungsten-Halogen10nm- 85µm
UVVis-NIR200-1700Two spectrometer channels/ detectors (F4 Si 3600 pixels CCD and InGaAs 512)/ ADC – 16 bitDeuterium/Tungsten-Halogen1nm-85µm
VisXT800-870F4 spectrometer/Si 2048 pixels CCDTungsten-Halogen10µm-1400 µm
 


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