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iEDX-150T镀层膜厚仪 x射线测厚仪

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称广州鸿熙电子科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/12/1 9:31:57
  • 访问次数204
产品标签:

镀层膜厚仪

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广州鸿熙电子科技有限公司于2013年成立,位于珠三角交通枢纽广州市增城区新塘镇的TOD商圈,临近地铁十三号线新塘站口和白江站,交通便利。 公司专业从事X射线管、镀层、元素含量标准件、镀层和元素含量类X射线仪器及科学研究实验室仪器设备的销售和服务,并有专业工程师可为客户提供专业的实验室配套解决方案。公司拥有自主设计的X射线管解决方案,是美国Calmetrics标准件在中国的代理商,是韩国ISP亚太区总代理。可为客户提供优质、快捷的专业服务。
X射线荧光测厚仪
镀层膜厚仪、贵金属电镀层厚度测试iEDX-150T是专业用于金银首饰及精密五金电镀领域的X射线荧光光谱分析仪,是韩国进口品牌ISP专业生产的,质量精良,稳定性好,测试准确度可做到5%以内。
iEDX-150T镀层膜厚仪 x射线测厚仪 产品信息

、产品概述

镀层膜厚仪、贵金属电镀层厚度测试

 

产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备

产品名称:镀层厚度测试仪

型    号:iEDX-150T

生 产 商:韩国ISP公司

 

产品图片:

 

镀层膜厚仪、贵金属电镀层厚度测试iEDX-150T

 

 

 

 

工作条件

工作温度:15-30

电源:AC: 110/220VAC 50-60Hz

相对湿度:<70%,无结露

功率:150W + 550W

 


、产品优势及特征

镀层膜厚仪、贵金属电镀层厚度测试

(一)产品优势

  1. 镀层检测,多镀层检测可达5层,精度及稳定性可控制+/-5%内

  2. 仪器尺寸:618*525*490mm,样品移动距离:160*150*90mm。

  3. 激光定位和自动多点测量功能。

  4. 可检测固体、粉末状态材料。

  5. 运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。

  6. 可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。

  7. 操作简单、易学易懂、**无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结果。

  8. 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。

  9. 软件*升级。

  10. 无损检测,一次性购买标样可**使用。

  11. 使用安心无忧,售后服务响应时间24H以内,提供***保姆式服务。

  12. 可以远程操作,解决客户使用中的后顾之忧。

  13. 可进行RoHS检测(选配功能),测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属,测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。亦可对成分进行分析。

(二)产品特征

  1. 高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)

  2. 计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)。

  1. Multi Ray. 运用基本参数(FP)软件,通过简单的三步进行无标样标定,使用基础参数计算方法,对样品进行**的镀层厚度分析,可以增加RoHS检测功能。

  2. MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析

励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行层厚度测量

相对(比)模式  无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多镀层厚度同时测量

镀层应用 [Cu/ABS等]

镀层应用 [Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

镀层应用 [Au/Ni-P/Cu/Brass等]

镀层应用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb]

合金层应 [如:Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

  1. Smart-Ray. 快速简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。

Smart-Ray. 金属行业**定量分析软件。可一次性分析25种元素。小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析金属分析精度可达+ /-0.02%,贵金属(8-24 Karat) 分析精度可达+ /-0.05kt

Smart-Ray。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。

  1. Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7软件操作系统

  2. 完整的统计 准差、 低/高读数趋势线Cp 和 Cpk 因素等

  3. 自动移动平台,用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。大测量点数量 = 9999 每个阶段文件。每个阶段的文件多 25 个不同应用程序。特殊工具"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含*统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能

 

、产品配置及技术指标说明

u 测量原理:能量色散X射线分析

u 样品类型:固体/粉末

u X射线光管:50KV1mA

u过滤器:5过滤器自动转换

u检测系统:SDD探测器(或Si-Pin

u能量分辨率:125±5eVSi-Pin:159±5eV

u检测元素范围:Al (13) ~ U(92)

u准直器孔径0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可选)

u应用程序语言:韩/英/中

u分析方法:FP/校准曲线,吸收,荧光

u仪器尺寸:618*525*490mm

u样品移动距离自动台)160*150*90mm

u样品台尺寸:250*225mm

 

 

  1. X射线管:高稳定性X光光管,使用寿命(工作时间>18,000小时)

微焦点X射线管、Mo () 铍窗口, 阳极焦斑尺寸75um,油绝缘,气冷,辐射安全电子管屏蔽。

50kV,1mA。高压和电流设定为应用程序提供**性能。

  1. 探测器:SDD 探测器(可选Si-Pin

能量分辨率:125±5eVSi-Pin:159±5eV

  1. 滤光片/可选

初级滤光片:Al滤光片,自动切换

7个准直器:客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

  1. 平台:软件程序控制步进式电机驱动X-Y轴移动大样品平台
    激光定位、简易荷载大负载量为5公斤
    软件控制程序进行持续性自动测

  2. 样品定位:显示屏上显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能

6. 分析谱线:

- 2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换)

- 基点改正(基线本底校正)

- 密度校正

- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示

7.视频系统:高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统

- 观察范围:3mm x 3mm

- 放大倍数:40X

- 照明方法:上照式 镀层膜厚仪、贵金属电镀层厚度测试

- 软件控制取得高真图像

8. 计算机、打印机(赠送)

  1. 含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标

  2. 含Win 7/Win 10系统。

  3. Multi-Ray镀层分析软件

注:设备需要配备稳压器,需另计

镀层膜厚仪、贵金属电镀层厚度测试

 

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