| 仪器名称： | 场发射透射电镜（TEM） | 型号： | Tecnai G2 F30/F20 JEOL-2100F FIB+球差校正电镜 |
| 检测项目： | 形貌观察（磁性、非磁样品、生物样均可） 选区电子衍射（环衍射、点衍射） 高分辨像（磁性、非磁样品、生物样均可） EDS能谱（点扫、线扫、面扫） 明场、暗场 Mapping 球差电镜 | ||
| 应用范围： | 可以对各种材料的物质内部微结构进行观察，电子衍射分析及高分辨电子显微术研究，材料粒径统计，晶体结构及晶体性能进行研究，配合能谱仪可以对各种元素进行定性、及半定量的微区分析，广泛应用于纳米技术、材料、物理、生物、化学、环境、光电子等领域。 | ||
| 制样要求： | 块体样品，要求样品大小为直径3mm的圆，厚度为200nm以下; 粉末和液体样品，要求样品能够均匀分散在支持膜上并且干燥，粉末样>0.01g,液体样>5ml; 生物样可做超薄冷冻切片制； 金属样、陶瓷样、块状样可以FIB制样； 离子减薄需要样品机械磨样到100um。 有3D-TEM、EELS、STEM、超薄冷冻切片、FIB、锇酸熏染制样等需求可进一步咨询。 | ||
PS：送样请附带“委托测试单”。TEM测试要求模板（附本） 点击下载
测试提示：
1.第三方检测，可开正规测试发票，附带测试清单。
2.有腐蚀性，毒性，或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员，测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤，测试后会对样品产生哪些变化；
3.客户需提供详细的样品资料，包括元素，主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论，商定最终测试条件；
4.测试人员与顾客通过或邮件沟通，出现测试纠纷，邮件或记录将作为重要的仲裁依据；请加和技术人员交流：。
5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品，一经发现将追究其法律责任。
