HPS2526精密方块电阻测试仪可方便地测量塑料薄膜、金属镀层方块电阻（每平方厘米电阻量值）的仪器。均匀金属薄层的厚度可用单位面积所体现的电阻表征，由于方阻与镀层厚度成反比，也就可以由方阻计算出镀层厚度。 仪器配有结构设计的四探针探头和面测夹具，使得测试时压力恒定，接触可靠，可更详细地分析薄膜金属化的质量。
HPS2526精密方块电阻测试仪性能特点
v 超大液晶人性化操作界面
v 点测和面测双模式兼容
v 测量数据自动保持功能
v 超快测量并显示读数
v zui高10档量程，手动和自动模式
v 档号显示及档计数功能
v 兼容各种不同材料，系数任意设定
v 完备的通讯接口可以与PC进行数据通讯及对仪器的远程控制
应用
l 塑料薄膜
l 金属镀层
l 金属化薄膜电容器
