产品介绍
英文名称：Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Chamber
产品别名：高加速温湿度应力试验机、温湿度偏压寿命试验机、高加速温湿度应力试验机、无偏置电压UHAST未饱和高压蒸汽试验机、稳态湿热寿命老化试验机、BHAST。
产品用途：用于评估非气密性封装IC器件（固态设备）在高温高湿条件下的运行可靠性，对芯片、半导体等其他元器件进行温湿度偏压（不偏压）高加速应力寿命老化试验。
执行试验标准：
GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热
IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热
JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命
JESD22-A101稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）
JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）
JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命
JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验
JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）
产品参数
PCT高压蒸煮试验箱 HAS试验箱（自动门） HAST高压加速老化箱 UHAST/BHAST
产品特点：
◎内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
◎产品满足JESD22-A100至A118偏压（BHAST）或不偏压（UHAST）加速抗湿性试验以及饱和高压蒸汽（蒸煮）试验。
◎产品兼容高加速温湿度应力HAST老化试验和高压蒸煮PCT抗湿性试验。
试验方法说明：
1. JESD22-A101-C:稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）
ê试验条件包括：温度，相对湿度，和元件加偏压的时间
ê常用测试条件：85℃±2/85%R.H±5/7.12psia（49.1kpa）/8mA/1000h
2.JESD22-A110 ：HAST高加速温湿度应力试验
ê常用测试条件：
130℃±2/85%R.H±5/33.3psia（230kpa）96h和110℃±2/85%R.H±5/17.7psia（122kpa）264h
3.JESD22-A118：温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）
ê试验条件包括：温度，相对湿度，蒸汽压力和时间
ê常用测试条件：
130℃±2/85%R.H±5/33.3psia（230kpa）96h（264h）和110℃±2/85%R.H±5/17.7psia（122kpa）264h（96h）样品数25ea/lot , 3lots
4. JESD22-A102-E：PCT高压蒸煮试验
5. JESD22-A102-D：PCT无偏压高压加速抗湿性试验
ê试验条件包括：温度，相对湿度，蒸汽压力和持续时间
ê常用测试条件：121℃±2/99%R.H/29.7psia（205kpa）/24h,48h,96h,168h,240h,336h
