仪器原理：
能量色散X荧光光谱仪是利用荧光X射线具有不同能量的特点，将来自试样的荧光X射线依次检测，得到一系列幅度与光子能量成正比的脉冲，经放大器放大后送到多道脉冲分析器。按脉冲幅度的大小分别统计脉冲数，脉冲幅度可以用X光子的能量标度，从而得到计数率随光子能量变化的分布曲线，即X光能谱图。
产品特点：
1.采用美国原装电致冷高性能Si-PIN探测器，分辨率高，探测范围宽,涵盖RoHS、卤素、镀层、合金(含贵金属)及各种常规材料分析的基本要求。
2. 配置国际的DPP数字多道信号集成处理器，比普通模拟多道信号处理器性能更佳，尤其在高计数率时有更好的分辨力(如Hg和Cl等)，高达80MHz的数据传输速度使分析时间更短，测量重复性和长期稳定性更好。
3. 内置高清摄像系统，清晰观察样品，准确定位样品测试区域。
4. 配套的FP测量软件，集成多种谱图处理算法和基体校正算法，有效降低仪器测量中的各种干扰谱峰，使低含量和痕量元素的检测结果
编 号 | 产 品 规 格 |
分析原理 | 能量色散X射线荧光分析法 |
分析元素 | 元素分析范围硫（S）-铀（U）任意元素 可分析铜合金、铁合金、锌合金、锡铅合金、贵金属分析等。 定量测试ROHS和卤素中的 铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬(Cr)、多溴联苯（PBB）和多溴联苯醚（PBDE）中的总溴,卤素中的溴(Br)、氯（Cl）。 可以分析最多5层镀层，一次可分析元素多达24种 |
工作条件 | 工作温度：18-22℃ |
| 相对湿度：40%-60% |
| 电 源：AC 220 V±10 %、50/60 Hz |
| 测定条件：大气环境 |
