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Leica EM Res102 多功能离子减薄仪

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称深圳市新则兴科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/9/9 15:40:23
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 深圳市新则兴科技有限公司成立于2004年,自成立以来新则兴一直致力于成为客户信赖的实验室整体解决方案提供商,代理国际品牌实验室仪器设备 :法国PRESI 金相制样设备、德国LEICA 显微镜、 苏州慧利激光干涉仪、日本HITACHI 超声波扫描显微镜、捷克TESCAN 扫描电镜等系列产品。在材料检测领域,以质的设备以及质的服务,为客户提供的支持,助推客户质量提升  公司由专业团队主创,成立十五年来一直聚焦于材料分析的细分领域,耐得住,汇聚行业精英,不断拓宽,加深产品及服务。  公司秉承“诚则信,信则兴”的企业理念,以诚信为本,以客户为尊,以产品及服务为桥,建立共赢的合作关系,共同成长。  2019年中,在深圳市机械行业协会牵头带领下,新则兴科技有限公司与深圳市计量质量检测研究院、海克斯康共同创建创新联合实验室,致力于通过搭建专家咨询平台结合现场试验,并聚焦于设计研发、制造生产、检测控制等产品全生命周期各个环节的几何质量以及原材料问题,为广大企业提供包括测试、辅助设计、分析验证、咨询、培训等在内的综合技术解决方案。共同打造测试检测行业泛生态圈,做到满足产品全生命周期的一站式服务平台。
使用徕卡 EM RES102,使您的样品具备的灵活性,具有轻薄、清洁、抛光、切割的坡度和结构。的离子束研磨系统结合了在一个单工作台面单元上制备TEM、SEM和LM样品的特点。各种样品架可以进行多元化应用。除了高能量的离子铣工艺,徕卡EM RES102也可适于采用低离子能量处理非常柔软的样本。
Leica EM Res102 多功能离子减薄仪 产品信息

的解决方案

Leica EM RES102是一款的离子束研磨设备,带有两个鞍形场离子源,离子束能量可调,以获得离子研磨结果。这一款独立的桌面型设备集 TEM,SEM和LM样品制备功能于一体,这与市面上其它设备截然不同。除了高能量离子研磨功能外,徕卡EM RES102还可 用于低能量极温和的离子束研磨过程。

  • TEM 样品:
    • 单面或双面离子束研磨适用于材料的离子束减薄过程。鞍形场离子源可获得很大的电子束透明薄区。
    • 程序化控制的离子入射角度变化,适用于完成特殊的样品制备目的,例如FIB样品清洁,以减少无定形非晶层。
  • SEM 或 LM 样品:
    • 离子束抛光抛光区域可达25mm。
    • 离子束清洁适用于对样品表面污染层或机械抛光后表面产 生的涂抹层进行清洁。
    • 样品表面衬度增强作用,可替代化学刻蚀作用。
    • 35°斜坡切割用于制备多层样品的截面。
    • 90°斜坡切割用于制备复合结构的半导体样品或组装器件,这种方式所需的机械预加工工作最少。

为了支持多样化的应用需求,Leica EM RES102 可以装配各种样品台以适用于TEM,SEM及LM 样品制备。预抽室系统实现样品快速交换,从而可有效提高样品交换效率 。

带给您的好处

Leica EM RES102 可对样品进行离子束减薄,清洁,截面切割,抛光以及衬度增强,这极大满足了您对应用需求的多样化和便利性。

  • 操作简便
    • 19”触摸屏电脑控制单元,监控并记录制样过程
    • 内置应用参数库
    • 程序化制样参数设定,加速初学者学习曲线
    • 帮助文件帮助初学者以及对设备进行维护
  • 高效/节约成本
    • TEM,SEM和LM应用功能集于一体
    • TEM样品制备获得的薄区大,有效提高了TEM样品制备效率
    • SEM样品制备可达25mm样品直径
    • 预抽室系统帮助快速交换样品,减少等待时间,并保证了样品室的持续高真空
    • 局域网功能方便远程操控
    • LN2样品台使得温度敏感型样品可在优化条件下进行离子研磨
  • 安全
    • 精确的自动终止功能,适用于光学终止或透明样品的法拉第杯终止
    • 在制样过程中可以时时存储活图像或视频
    • 离子源和样品运动马达驱动,程序化控制,因而可获得重复性制样结果

主要功能

对无机薄片样品进行离子减薄,使得薄片样品可被透射电子穿过,从而适宜TEM透射电子显微镜观察;对无机块状样品进行离子束抛光、离子束刻蚀,样品表面离子清洗及斜坡切割,便于SEM扫描电子显微镜观察样品内部结构信息。

优异性价比

一台设备即可为TEM、SEM、LM电镜检测提供试样,多种应用功能集于一体,高效并节约成本安全;所有机械控制、样品移动实现全自动化,可获得重复性制样结果分段冷却;对温度敏感样品得到充分保护,在优化条件下进行离子研磨,保持样品的原生态操作简便;内置应用参数库,帮助文件,无论是初学者还是后期维护都十分简单。

仪器参数
离子源 离子枪 两把鞍形场离子枪,离子研磨区域大
离子能量 0.8 kev 至 10 kev (0.1keV每步)
离子束流 4.5 mA (每把离子枪)
离子束流密度 8kV/3mA条件下约1mA/cm2(每把离子枪)
离子束半高宽FWHM 10keV 条件下0.8mm,2keV 条件下2.5mm
使用气体

氩气 (Ar 5.0)

进气气压 500 mbar

气体流速 每把离子枪小于1 sccm,自动控制
倾斜角度设定(电脑控制) 离子枪1倾斜 ± 45°(精确度为0.1°)
离子枪2倾斜 ± 45°(精确度为0.1°)
样品台倾斜范围 –230° 至 100°(精确度为0.1°)
离子研磨角度范围 –90° 至 90° (角度与不同样品台有关)
样品移动范围(电脑控制) 旋转速率 0.6 至 10 rpm
摆动范围 360°,每步1°
零位设置 每步1°
X方向移动 ±5mm,精确度0.1mm
倾斜范围 -230°至 100°
装载样品尺寸 SEM样品台样品尺寸 Ø 25 mm × 12 mm
SEM样品台离子研磨区域 Ø 25 mm
TEM和FIB样品台样品尺寸 Ø 3 mm 或 Ø 2.3 mm
SEM薄片样品台样品尺寸 5 mm (H) × 7 mm (W) × 2 mm (D)
SEM斜坡切割样品台样品尺寸 5 mm (H) × 5 mm (W) × 3 mm (D)
冷冻装置 (选配) 自动液氮制冷接触装置
自动加热装置避免潮湿污染样品
LN2 消耗量 约0.6L/h
操作控制(用户界面) Windows 7操作系统,19英寸触摸屏电脑控制
具有局域网远程控制和监视功能
内置应用程序库
可个性化修改和存储离子研磨参数,单个程序使用或者组合程序序列
真空系统 无油真空系统,<1×10-5mbar,配置4段式隔膜泵和涡轮分子泵(70 L/s)
配置预抽真空室,样品交换时间小于1分钟
真空检测 全程范围真空检测,Pirani真空计检测低真空,冷阴极检测高真空
观察系统 数字CMOS彩色摄像头,带自动放大观察功能,自动光圈调整和自动聚焦
可实时存储图像和录像
离子束感光功能(伪彩色图像),用于精确调整离子枪对中
自动终止离子束加工过程 通过时间终止
对于不透明样品的光学终止
对于不透明和透明样品的法拉第杯终止(选配)
电气参数 电压 90至260 VAC, 50/60 Hz
功率 400 W

 

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