Nano Indenter® G200 纳米压痕仪
Nano Indenter® G200系统专为各种材料的表征和开发过程中进行纳米级测量而设计。 该系统是一个可升级，可扩展且经过生产验证的平台，全自动硬度测量可应用于质量控制和实验室环境。
第五代原位纳米力学测试系统Nano Indenter G200, 在微/纳尺度范围内的加载和位移构成精确的力学测试.
参数指标：
位移测量方式：电容位移传感器
压头总的位移范围： ≥ 1.5 mm
压痕深度： > 500 um
位移分辨率： 0.01 nm
加载模式： 电磁力
载荷 (标配)： > 500 mN
载荷分辨率： 50 nN
高载荷选件： 10 N/50 nN
DCM 压痕选件： 10 mN/1 nN
框架刚度： ≥ 5 x 106 N/m
有效使用面积： 100 mm X 100 mm
定位精度： 1 um
定位控制模式： 全自动遥控
总的放大倍率： 250 倍和 1000 倍
物镜镜头： 10 X 和 40 X
应用
– 半导体器件, 薄膜
– 硬质涂层, DLC薄膜
– 复合材料, 光纤, 聚合物材料
– 金属材料, 陶瓷材料
– 无铅焊料
– 生物材料, 生物及仿生组织等等
的设计
所有的纳米压痕试验都取决于精确的加载和位移数据，要求对加载到样品上的载荷有精确的控制。KT的第五代 G200 型纳米压痕仪采用电磁驱动的载荷装置，从而保证测量的精确度，的设计避免了横向位移的影响。
KT的第五代 G200 型纳米压痕仪的杰出设计带来很多的便利性，包括方便的测试到整个样品台，精确的样品定位，方便的确定样品位置和测试区域，简便的样品高度调整，以及快速的测试报告输出。模块化的控制器设计为今后的升级带来极大的方便。
此外，的第五代 G200 型纳米压痕仪符合各种国际标准，保证了数据的完整性。客户可以通过每个力学传感器自主设计试验，在任何时候对其进行切换，同时整个设备占地面积小，适合各种实验室环境。
2017年获得教科文组织颁奖的纳米科技领域的创新技
NanoSuite的特点和优势
– 极其灵活、精确的数据采集和控制
– 不断更新的测试方法
– 的批处理测试功能
– 新型的 2D 图形输出功能
– 测试数据更有效的分析功能
– PDF 测试数据的直接输出
– 优越的自我定制测试模型的建立
– 非常方便的个性化测试方法的建立
– 功能齐全完善的图像处理功能
– 用户可轻松的编辑自己的测试方法以满足特殊的应用与需求
– 定制化的测试方法同样可满足 ISO14577 国际标准
– 提供专业的建模和仿真软件, 帮助用户实现特殊的离线研究需要
增强的载荷加载系统
新一代 Nano Indenter G200 系列纳米压痕仪是具有从纳牛到牛顿完整的加载力范围，并且不同的加载装置可自动软件切换，整个测试流程都是全自动的，极大的提高了测试数据的可靠性和可重复性，避免了可能的人为因素的影响，确保每个测试都是合理、一致、精确。
标准的加载装置
Nano Indenter G200 纳米压痕仪标准配置是 XP 加载系统 (为500mN)， 位移分辨率< 0.01纳米，压入深度> 500 微米,该装置可应用到所有的测试功能。压头更换轻松完成，非常好的机架刚度极大的减少了系统对测试的影响。
高精度加载装置
DCM II 是高分辨的纳米纳牛力加载模块，它既可以单独工作，也可以作为一个附件与Nano Indenter G200 协同工作。由于其惯性质量很低，使得纳米压痕中的初始表面的选取更加灵敏、精确， DCM II 在超低载荷下的纳米压痕测试具有的精确度和可重复性，由于它自身的空载共振频率远高于一般建筑物的振动频率，这就使得一般的环境振动对它几乎没有影响，DCM II 具有很宽的动态频率范围 (0.1 Hz 到 300 Hz)，所有这些特点使得 DCM II 可以提供同类设备不可比拟的高信噪比和高可靠性的试验数据，例如右图所示的蓝宝石上三个纳米深度的压痕测试，在几个纳米的压痕深度范围内获得了非常可靠的弹性模量。
大载荷加载装置
Nano Indenter G200的大载荷加载选件，大大强化了 G200 系列纳米压痕仪的应用范围。这个选件可以用于标准的 XP 加载模块，将 G200 型纳米压痕仪的加载能力扩展至 10N，可对陶瓷、金属块材和复合材料进行力学表征。大载荷选件的巧妙设计，使得 G200 既避免了在低载荷的情况下牺牲仪器的载荷和位移精度，同时又保证了用户在需要大加载力的测试时，通过鼠标操作就可以在测试实验中进行无缝加载装置切换。
产品描述
Nano Indenter® G200系统是一种准确，灵活，使用方便的纳米级机械测试仪器。 G200测量杨氏模量和硬度，包括从纳米到毫米的六个数量级的形变测量。 该系统还可以测量聚合物，凝胶和生物组织的复数模量以及薄金属膜的蠕变响应（应变率灵敏度）。 模块化选项可适用于各种应用：频率特定测试，定量刮擦和磨损测试，集成的基于探头的成像，高温纳米压痕测试，扩展负载容量高达10N和自定义测试。
主要功能
- 电磁驱动可实现高动态范围下力和位移测量
- 用于成像划痕，高温纳米压痕测量和动态测试的模块化选项
- 直观的界面，用于快速测试设置; 只需几个鼠标点击即可更改测试参数
- 实时实验控制，简便的测试协议开发和精确的热漂移补偿
- 屡获殊荣的高速“快速测试”选项，用于测量硬度和模量
- 多功能成像功能，测量扫描和流程化测试方法，帮助快速得到结果
- 简单快捷地确定压头面积函数和载荷框架刚度
Nano Indenter® G200X
Nano Indenter® G200X系统是纳米级机械测试仪器，兼具精准、灵活、易于使用等优点。G200X加入了高速控制电子元件，并且支持的InView软件的升级界面，从而增强了KLA Nano Indenter® G200系统的测量能力。G200X可测量杨氏模量和硬度，包括测量从纳米到毫米六个数量级范围的变形。该系统还可以测量聚合物，凝胶和生物组织的动态模量，以及金属薄膜的蠕变响应（应变率敏感性）。模块化系统选件可适应于多种应用：特定频率的测试，划痕和磨损的定量测试，集成探头成像，高温测试和定制测试方案。
iMicro
iMicro纳米压痕仪可轻松测量硬涂层，薄膜和少量材料。该仪器准确、灵活，并且用户友好，可以提供压痕、硬度、划痕和通用纳米级测试等多种纳米级机械测试。 可互换的驱动器能够提供大动态范围的力荷载和位移，使研究人员能够对软聚合物到硬质金属和陶瓷等材料做出精确及可重复的测试。模块化选项适用于各种应用：材料性质分布、特定频率测试、刮擦和磨损测试以及高温测试。 iMicro拥有一整套测试扩展的选项，包括样品加热、连续刚度测量、NanoBlitz3D / 4D性质分布，以及Gemini 2D力荷载传感器，可以提供摩擦和其他双轴测量。
