METTLER TOLEDO 梅特勒托利多分析天平XPE
性能特点
分析天平触摸屏,可在 Test-Manager™ 嵌入式软件中进行 SOP 测试。分析天平无论何时进行测试,分析天平都会在屏幕上显示消息,您只需遵循分步式指导信息操作即可。
在称量催化剂、酶或高价值电子元件时,分析天平可读性是提高准确度的一个重要因素。了解更多有关梅特勒-托利多手动质量比较器如何提高工业应用精确度的信息。
技术参数
XPE分析天平型号 | 分析天平量程[g] | 分析天平可读性 [mg] | 分析天平最小称量值(USP),典型值[mg] | 分析天平重复性[mg] | 分析天平线性误差(典型值) |
分析天平XPE 105 | 120.0 | 0.01 | 14.0 | 0.015 | 0.1 |
分析天平XPE 204 | 220.0 | 0.1 | 80.0 | 0.05 | 0.2 |
分析天平XPE 205DR | 120.0 | 0.01,0.1 | 14.0 | 0.015 | 0.15 |
分析天平XPE 205 | 81.0,220.0 | 0.01 | 14.0 | 0.015 | 0.1 |
分析天平XPE 504 | 520.0 | 0.1 | 80.0 | 0.08 | 0.4 |