测试速度超快的微纳米力学测试平台
Nano Indenter® G200系统专为各种材料的表征和开发过程中进行纳米级测量而设计。该系统是一个可升级，可扩展且经过生产验证的平台，全自动硬度测量可应用于质量控制和实验室环境。
产品描述
Nano Indenter® G200系统是一种准确，灵活，使用方便的纳米级机械测试仪器。G200测量杨氏模量和硬度，包括从纳米到毫米的六个数量级的形变测量。该系统还可以测量聚合物，凝胶和生物组织的复数模量以及薄金属膜的蠕变响应（应变率灵敏度）。模块化选项可适用于各种应用：频率特定测试，定量刮擦和磨损测试，集成的基于探头的成像，高温纳米压痕测试，扩展负载容量高达10N和自定义测试。
主要功能
电磁驱动可实现高动态范围下力和位移测量
用于成像划痕，高温纳米压痕测量和动态测试的模块化选项
直观的界面，用于快速测试设置；只需几个鼠标点击即可更改测试参数
实时实验控制，简便的测试协议开发和精确的热漂移补偿
屡获殊荣的高速“快速测试”选项，用于测量硬度和模量
多功能成像功能，测量扫描和流程化测试方法，帮助快速得到结果
简单快捷地确定压头面积函数和载荷框架刚度
主要应用
高速硬度和模量测量
界面附着力测量
断裂韧性测量
粘弹性测量
扫描探针显微镜（3D成像）
耐磨损和耐刮擦
高温纳米压痕
工业应用
大学，研究实验室和研究所
半导体和电子工业制造业
轮胎行业
涂层和涂料工业
生物医药行业
医疗仪器
更多应用：请根据您的要求与我们联系
主要性能
增强的载荷加载系统
增强的纳米划痕测试
更强化的微摩擦磨损测试功能
粘弹性材料性能测量功能－DMA 功能
增强的恒应变速率测试功能
的连续刚度测量功能
增强的原位纳米力学测试功能
Survey Scanning图像功能
超高精度成像定位功能
的接触刚度成像功能
的革命性的超快压痕技术
从MTS公司到安捷伦公司再到KLA公司
– KLA是较大的半导体在线测量领域的公司。
– 在 1983 年发明了一台的纳米压痕仪。
– 我们拥有世界上及国内相当大的纳米压痕仪客户群。
– 是符合 ISO-14577、ASTM-E2546-07、GB/T22458-2008、GB/25898-2010 等国家标准的纳米压痕仪供货商。
– 大且灵活的加载范围——适用于各种材料和硬质薄膜及涂层检测。
– 大的压头移动范围——适用于各种较厚薄膜和涂层、粗糙度较大的样品。
– 的位移探测精度。
– 的技术——连续刚度测量模块。
– 的恒应变加载模式。
– 的金刚石压头制造工艺。
– 整个测量过程中热飘移效应实时扣除——KLA的技术。
– 功能强大的 NanoSuite 6 控制软件——行业中的较为强大的控制软件。
– 真正的原位成像和原位纳米力学测试功能。
– 性能优越的防震抗噪系统。
– 全自动控制的光学显微镜系统。
– KLA在中国设置了当地的维修和培训中心。
– 强大的技术团队。
– 拥有国内领域较大的客户群。
