布鲁克的Hysitron PI 95 TEM PicoIndenter 是能够直接在透射电子显微镜 （TEM） 内观察的深度感应纳米压痕设备。有了这种测试仪器，不仅能够对纳米级材料的力学响应进行成像，还可以同时获取载荷-位移数据。此外，集成视频接口允许在载荷-位移曲线和对应的 TEM 视频之间进行同步。
一、亮点
1）全面------深度感应纳米压痕
实现TEM内纳米力学测试的直接观测；
2）高性能------高级控制模块
提供高达 78 kHz 反馈速率和38 kHz 的数据采集速率，以捕获瞬态事件（如错位突变等）。
3）精确------三级定位系统
包括三轴定位器、3D 压电调整器和用于静电驱动和电容位感应的高级传感器。
二、特点
1）针对您的 TEM 的定制解决方案
Hysitron PI 95 经过精心设计，可与 JEOL、FEI、日立和蔡司显微镜兼容。有了这种仪器，不仅能够对纳米尺度材料的力学反应进行成像，而且可以同时获取定量机械数据。集成的视频接口允许载荷-位移曲线和相应的 TEM 视频同步。
2）针对纳米级研究进行了优化
Hysitron PI 95 特别适用于纳米尺度现象的研究。在 TEM 中执行这些类型的研究可以明确区分力或位移瞬变的许多可能原因，这些原因可能包括错位爆发、相变、剥落、剪切带或断裂产生。
3）的性能
Hysitron PI 95 采用三级控制进行定位和力学测试。除了三轴粗定位器和用于精细定位的三维压电调整器外，该仪器还配备了用于静电驱动的传感器和用于获取定量纳米级力学测试数据的电容位移传感器。
三、提供泛的创新表征技术------选项和附件
1） 样品安装------纳米级材料的多种设计；
2）SEM 和 TEM 加热台------直接测量和观察热启动材料转化；
3） 原位纳米划痕模块------同时具有正压力和横向力的高分辨率测量功能；
4）纳米动态力学------施加振荡力,持续测量粘弹性和疲劳特性,获得其作为接触深度、频率和时间的函数；
5）电学特性模块(ECM)------在纳米压痕、压缩或拉伸加载期间同时进行原位电特性测量；
6）压转拉模块(PTP)------专为纳米线和独立薄膜而设计。
四、相关图片
1）Hysitron PI 95 经过精心设计，可与 JEOL、FEI、日立和蔡司显微镜兼容
2）压缩前和压缩后镍纳米柱的暗场 TEM 图像。最初在柱子中观察到的高错位密度在压缩时已经消失。（来源：Nature Materials 7， 115-119 （2007）.）
3）示例 1 μN 划痕测试：（1） 正向和横向载荷，正向位移随时间变化；（2-5） 原位 TEM 视频中的相应帧，显示 DLC 薄膜在颗粒顶部的变形
4）压缩VLS法生长的n型掺杂的硅纳米柱时的电学表征。 D.D. Stauffer 博士论文，“纳米级脆性材料的变形机理”，明尼苏达大学（2011），第 150-152 页
